AEC-Q100

车用芯片设计规范 AEC-Q100 《车用芯片设计规范 AEC-Q100详解》 在智能交通与自动驾驶技术日新月异的时代，车用芯片的设计质量与可靠性至关重要。AEC-Q100，全称为Automotive Electronics Council Quality Standard for Integrated Circuits，...

评级：0 浏览量：515 收藏量：2 资源大小：1.76MB 上传时间：2022-07-12

AEC-Q100-002E：2013人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试 - 完整英文电子版（7页） 完整英文电子版 AEC-Q100-002E：2013 Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge（ESD) Test(人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试）。对符合 AEC Q100 标准的集成电路器件进行的所有 HBM 测试均应符合 ANSI/E...

评级：0 浏览量：145 收藏量：0 资源大小：126KB 上传时间：2023-11-10

AEC-Q100标准 例如在Rev-H版本中，对AEC-Q005无铅要求进行了增加，并对AEC-Q100-003机械模型ESD测试和AEC-Q100-006热诱导的寄生栅漏电测试进行了废弃指导，原因是这些测试由于行业测试陈旧而被移除。 AEC-Q100标准的发布和执行，...

评级：5 浏览量：2950 收藏量：4 资源大小：835KB 上传时间：2018-05-18

AEC-Q100-007B：2007 故障模拟和测试分级 - 完整英文电子版（25页） 完整英文电子版 AEC-Q100-007B：2007 Fault Simulation and Test Grading（故障模拟和测试分级）。本测试方法定义了故障分级程序并指定了被测设备的制造测试程序必须检测到故障的级别。 不包括参数故障。 故障分级的...

评级：5 浏览量：65 收藏量：0 资源大小：105KB 上传时间：2023-11-10

AEC-Q100-005D1：2012 非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 - 完整英文电子版（14页） 完整英文电子版 AEC-Q100-005D1：2012 Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test （非易失性存储器程序-擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 ）。本测试旨在评估...

评级：5 浏览量：88 收藏量：0 资源大小：168KB 上传时间：2023-11-10

AEC-Q100-004D：2012 IC Latch-Up Test（IC锁存测试）- 完整英文电子版（11页） 所有在集成电路（IC）设备上进行的、符合AEC Q100标准的闩锁测试，应符合JEDEC EIA/JESD78规范的最新版本，并有以下澄清和要求（所列章节编号与JEDEC规范相对应）。自本文件的最后一次修订以来，文本的改进和差异...

评级：5 浏览量：77 收藏量：0 资源大小：42KB 上传时间：2023-11-10

AEC - Q100 Rev H - CDC设计、实施和资质证书模板 - 完整英文电子版（3页 完整英文电子版 AEC - Q100 Rev H CDC Template Certificate of Design, Construction and Qualification （CDC设计、实施和资质证书模板）

评级：0 浏览量：85 收藏量：0 资源大小：20KB 上传时间：2023-11-12

AEC-Q100-基于集成电路应力测试认证的失效机理-G中文版.pdf "AEC-Q100-基于集成电路应力测试认证的失效机理-G中文版.pdf" AEC-Q100是一种基于集成电路应力测试认证的失效机理标准，旨在确保汽车电子行业中的集成电路器件能够满足严格的可靠性和质量要求。该标准涵盖了集成...

评级：5 浏览量：624 收藏量：1 资源大小：2.67MB 上传时间：2021-12-10

AEC - Q100 全系列 - 包含全部13份最新英文电子版标准文件 .rar 2， AEC-Q100-001C：1998 - 完整英文电子版（14页） 3， AEC-Q100-002E：2013 - 完整英文电子版（7页） 4， AEC-Q100-003E：2003 - 完整英文电子版（14页） 5， AEC-Q100-004D：2012 - 完整英文电子版（11页） 6， ...

评级：5 浏览量：582 收藏量：2 资源大小：1.73MB 上传时间：2021-07-14

AEC-Q100-011D：2019 带电设备模型（CDM） 静电放电测试 - 完整英文电子版（12页） 完整英文电子版 AEC-Q100-011D：2019 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test （带电设备模型（CDM） 静电放电测试 ）。本规范的目的是建立一个可靠且可重复的程序，以确定集成电路器件的 CDM ESD...

评级：5 浏览量：78 收藏量：0 资源大小：112KB 上传时间：2023-11-10

AEC - Q100 Rev H - QTP模板 资格测试计划 - 完整英文电子版（4页 本文档标题提及的"AEC - Q100 Rev H"是指汽车电子委员会（Automotive Electronics Council, 简称AEC）制定的一项标准，用于确保汽车电子元器件的质量和可靠性。"Rev H"表示该标准的某个修订版本。"QTP模板"则指的是...

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Altera高度集成的PowerSoC通过AEC-Q100标准 Altera公司的Enpirion PowerSoC系列是一款专为汽车电子行业设计的高度集成电源管理解决方案，其九款新产品已经通过了严格的AEC-Q100温度2级标准认证，这一认证对于确保汽车集成电路在恶劣环境下的可靠性和耐久性至关...

评级：0 浏览量：104 收藏量：0 资源大小：62KB 上传时间：2021-01-20

AEC系列标准,AEC-Q100-004D ### AEC-Q100-004D：集成电路闩锁效应测试标准解析 #### 一、概述 AEC-Q100-004D是AEC（Automotive Electronics Council，汽车电子委员会）制定的一份重要标准文档，旨在规定集成电路（IC）中的闩锁效应（Latch-Up...

评级：0 浏览量：26 收藏量：0 资源大小：51KB 上传时间：2024-02-21

Ramtron64千位串行F-RAM存储器达到汽车电子AEC-Q100标准 的非易失性铁电随机存取存储器(FRAM)和集成半导体产品开发商及供应商Ramtron International Corporation扩展其符合AEC-Q100标准要求的F-RAM存储器产品，FM24CL64 64千位 (Kb) 串行F-RAM已通过，可在 -40至 +85℃ 的...

评级：0 浏览量：93 收藏量：0 资源大小：91KB 上传时间：2021-01-19

Altera高度集成的PowerSoC通过AEC-Q100认证标准 Altera公司宣布，九款Altera Enpirion电源芯片系统（PowerSoC）新器件完全符合汽车电子协会（AEC-Q100）温度2级认证标准，这一标准对汽车集成电路（IC）产品进行关键的压力测试认证。最新认证的Enpirion器件包括EP53...

评级：0 浏览量：165 收藏量：0 资源大小：63KB 上传时间：2020-10-19

AEC-Q100-Rev-J-2023 Base-Document.pdf ### AEC-Q100-Rev-J-2023 Base-Document 关键知识点解析 #### 1. 标题解读：AEC-Q100-Rev-J-2023 Base-Document.pdf - **AEC-Q100**：指的是Automotive Electronics Council（汽车电子委员会）所制定的标准之一，...

评级：0 浏览量：92 收藏量：0 资源大小：1.28MB 上传时间：2024-02-05

符合AEC-Q100标准 面向车载产品 特瑞仕半导体株式会社（日本东京都中央区 董事总经理：芝宫 孝司 东京证券交易所:6616，以下简称“特瑞仕”）开发了把线圈和控制IC组成整体、符合车载可靠性标准AEC-Q100的超小型降压 “micro DC/DC”转换器XDL605/...

评级：0 浏览量：133 收藏量：0 资源大小：96KB 上传时间：2021-01-20

AEC-Q100GFAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTESTQUALIFICATIONFORIC.pdf 本文档是AEC-Q100标准的G版本，即AEC-Q100-Rev-G，其发布日期为2007年5月14日。 AEC-Q100标准是汽车行业内部对电子组件的可靠性要求，特别是针对集成电路的质量和可靠性测试认证。它要求集成电路在被允许用于汽车...

评级：0 浏览量：110 收藏量：0 资源大小：310KB 上传时间：2021-06-15

AEC-Q100-008A AEC-Q100-008A 是一份由汽车电子委员会(Automotive Electronics Council)制定的行业标准，专门针对汽车电子组件的早期失效率(ELFR)进行规定。这份文档是2003年7月18日修订的A版本，包含6页的完整英文内容，旨在确保...

评级：0 浏览量：124 收藏量：0 资源大小：43KB 上传时间：2021-09-03

AEC-Q100-009B 《AEC-Q100-009B：2007 Electrical Distribution Assessment》是针对汽车电子行业的组件技术委员会发布的一项标准，旨在评估电气元件在极端环境条件下的性能和可靠性。该标准由Automotive Electronics Council (AEC)...

评级：5 浏览量：83 收藏量：0 资源大小：61KB 上传时间：2021-09-03

AEC-Q100-009B：2007 配电评估- 完整英文电子版（10页） 完整英文电子版 AEC-Q100-009B：2007 Electrical Distribution Assessment（配电评估）。本测试方法的目的是定义获得集成电路电气参数的表征、电气分布和参数偏移数据的方法。 该方法的目的是评估部件在正常工艺变化...

评级：0 浏览量：41 收藏量：0 资源大小：37KB 上传时间：2023-11-10

AEC-Q100-008A：2003 Early Life Failure Rate (ELFR) - 完整英文电子版（6页） 完整英文电子版 AEC-Q100-008A：2003 Early Life Failure Rate (早期寿命衰竭率）。本规范建立了用于评估零件的早期失效特性的测试方法，这些零件使用新的或未经证实的加工技术或设计规则，而通用数据不可用。 这将...

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AEC-Q100G中文版 AEC-Q100G中文版

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AEC-Q100G中文版.pdf 2. 认证家族的定义：这部分介绍了AEC-Q100认证家族的定义和分类，包括AEC-Q100-001到AEC-Q100-012共12个认证项目。 3. 附录：这部分提供了一些附加的信息，包括认证计划和结果的最低要求、电磁兼容测试的零件设计...

评级：0 浏览量：544 收藏量：0 资源大小：2.67MB 上传时间：2021-10-29

AEC-Q100_G_中文版 AEC-Q100_G_中文版

评级：0 浏览量：1123 收藏量：1 资源大小：760KB 上传时间：2016-01-17

AEC - Q100 Rev H - QTP 这部分包含高温度操作寿命测试（JESD22 A108）和早期故障率测试（AEC-Q100-008），这两项测试都是为了评估组件在长期运行中的可靠性和早期故障可能性。 在每个测试项目下，都列出了参考测试条件、批次数量、样本...

评级：0 浏览量：69 收藏量：0 资源大小：219KB 上传时间：2021-09-03

AEC-Q100-006D：2003 电热诱导的寄生门漏电测试（GL）- 完整英文电子版（15页） 完整英文电子版 AEC-Q100-006D：2003 Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)-电热诱导的寄生门漏电测试（GL)。本规范的目的是建立一个可靠且可重复的程序，用于确定表面贴装集成电路对电热...

评级：0 浏览量：32 收藏量：0 资源大小：81KB 上传时间：2023-11-10

Prisemi-AEC-Q100/Q101/Q200 Prisemi-AEC-Q100/Q101/Q200

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AEC-Q100中文版 - **AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试**：评估存储器的长期性能。 - **AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试**：检测热电效应下的漏电流情况。 - **AEC-Q100-007故障...

评级：5 浏览量：6933 收藏量：28 资源大小：751KB 上传时间：2009-03-05

AEC-Q100G中文版_Flatten.pdf AEC-Q100G中文版_Flatten.pdf AEC-Q100G中文版_Flatten.pdf是汽车电子委员会（AEC）发布的一份关于集成电路应力测试认证的标准文件。该文件提供了关于集成电路应力测试认证的详细信息，包括认证家族的定义、失效...

评级：0 浏览量：157 收藏量：1 资源大小：2.69MB 上传时间：2021-10-29

AEC - Q100 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For 《AEC-Q100应力测试资格认证：基于失效机理的方法》 AEC-Q100是汽车电子委员会（AEC）推出的一套针对集成电路（IC）的可靠性标准，旨在确保在恶劣环境下的汽车应用中使用的电子组件的高质量和可靠性。这个标准主要...

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AEC-Q100-003E：2003 机器模式 (MM) 静电放电测试 - 完整英文电子版（14页） 完整英文电子版 AEC-Q100-003E：2003 Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test （机器模式 (MM) 静电放电测试）。本规范的目的是建立一个可靠和可重复的程序来确定电子设备的MM ESD敏感性。

评级：0 浏览量：45 收藏量：0 资源大小：149KB 上传时间：2023-11-10

AEC-Q100-007B：2007 Fault Simulation and Test Grading - 完整英文电子版（2 《AEC-Q100-007B：2007故障模拟与测试分级》是一份关于汽车电子组件质量标准的重要文档。这份25页的完整英文电子版详细介绍了在设计和验证汽车级集成电路（IC）时所采用的故障模拟和测试方法。AEC-Q100是汽车电子...

评级：0 浏览量：121 收藏量：0 资源大小：105KB 上传时间：2021-10-01

AEC - Q100 Rev H - QTP Template Qualification Test Plan - 完整英文电子 **AEC-Q100标准概述** AEC-Q100是汽车电子委员会（Automotive Electronics Council, 简称AEC）制定的一套可靠性测试标准，旨在确保汽车电子组件在极端工作条件下的性能和可靠性。这个标准主要针对集成电路（ICs），...

评级：0 浏览量：99 收藏量：0 资源大小：25KB 上传时间：2021-10-01

AEC-Q100-002E：2013 Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharg 《AEC-Q100-002E：2013人体模型（HBM）静电放电标准详解》 在电子行业中，静电放电（Electrostatic Discharge，ESD）是产品可靠性的重要考虑因素，尤其是在汽车电子领域。AEC-Q100-002E标准详细规定了人体模型...

评级：5 浏览量：105 收藏量：0 资源大小：126KB 上传时间：2021-10-01

AEC-Q100H：2014 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification 《AEC-Q100H：2014 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification》是针对集成电路（Integrated Circuits，IC）的一项重要测试标准，旨在确保汽车电子领域使用的半导体器件在极端条件下的可靠性和耐久性。AEC...

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AEC-Q100-009B：2007 Electrical Distribution Assessment - 完整英文电子版 **AEC-Q100-009B标准详解** AEC-Q100是汽车电子委员会(Automotive Electronics Council, 简称AEC)制定的一系列可靠性标准，主要针对车用半导体元器件。AEC-Q100是其中的一个特定测试规范，专注于电气性能的评估。该...

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Ramtron的存储器FM25C160获得AEC-Q100标准认证 Ramtron International公司宣布其16Kb、5V、SPI FRAM存储器FM25C160已经获得AEC-Q100标准认证(汽车电子设备委员会针对集成电路而设的测试标准)。FM25C160是第3款达到AEC-Q100标准认证的FRAM器件，也是该公司致力于...

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AEC-Q100-011D：2019 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Disc 《AEC-Q100-011D：2019 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test》是一份详细的技术规范，针对汽车电子行业中的静电放电（ESD）测试标准。这份文档是汽车行业质量标准AEC-Q100的一部分，旨在确保在...

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AEC-Q100-001C：1998 WIRE BOND SHEAR TEST - 完整英文电子版（14页）.rar 本测试建立了一个程序，用于确定封装前或封装后器件上金球键合和封装键合表面之间的界面强度，或铝楔/针脚键合和封装键合表面之间的界面强度。这种强度测量对于确定两个特征非常重要： 1）已形成的冶金结合的完整性...

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AEC - Q100 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits.7z 《AEC-Q100：集成电路应力测试与失效机制》 AEC-Q100是汽车电子委员会（Automotive Electronics Council）制定的一套严格的可靠性标准，专为在恶劣环境中工作的汽车电子集成电路设计。这个标准旨在确保IC在极端温度...

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Ramtron的FRAM存储器FM24CL16达到汽车电子AEC-Q100标准 Ramtron正积极实施多项计划来扩充符合AEC-Q100标准的FRAM产品系列，以应对汽车市场的设计和采购挑战。该公司并已制定计划以支持多个用户设计项目，涵盖从驾驶室应用到车辆严格的应用环境。 Ramtron副总裁Mike ...

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AEC-Q100-006D：2003 Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leak 《AEC-Q100-006D：2003 Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leak》是针对半导体行业中的一项重要测试标准，它详细定义了如何评估汽车电子元器件在电热诱导下的寄生门漏电流（Parasitic Gate Leakage，简称PGL...

评级：0 浏览量：104 收藏量：0 资源大小：82KB 上传时间：2021-10-01

AEC-Q100-003E：2003 Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Te 《AEC-Q100-003E：2003 Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test》是汽车电子行业中一个重要的标准文档，它详细定义了在电子元器件测试过程中，对于机器模型（Machine Model，简称MM）静电放电...

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AEC_Q100_Rev_I.pdf - AEC-Q100-002和AEC-Q100-003：分别对应人体模型（HBM）和机器模型（MM）的静电放电测试（Electrostatic Discharge Test），用于评估电子组件对静电放电的抵抗力。 - AEC-Q100-004: 非易失性存储器写入/擦除耐久性...

评级：5 浏览量：614 收藏量：1 资源大小：2.58MB 上传时间：2019-11-23

AEC-Q100-005D1：2012 Non-Volatile Memory Program-Erase Endurance, AEC-Q100-005D1：2012 Non-Volatile Memory Program-Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test - 完整英文电子版（14页）.zip

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AEC - Q100-011 - Rev-B - Charged Device Model - CDM - Electrostatic Discharge Test.pdf ### AEC-Q100-011：汽车电子组件静电放电测试——充电设备模型（CDM） #### 概述 AEC-Q100-011标准是汽车电子理事会(Automotive Electronics Council, AEC)为汽车电子元件制定的一套静电放电(ESD)测试方法，特别...

评级：0 浏览量：258 收藏量：0 资源大小：68KB 上传时间：2010-06-27

AEC-Q100-010A：2003 Solder Ball Shear Test（焊锡球的剪切试验）- 完整英文电子版（7页） 完整英文电子版Solder Ball Shear Test（焊锡球的剪切试验）。本测试方法适用于除 Flip Chip 之外的所有焊球表面贴装封装（例如 PBGA、Chip Scale、Micro Lead Frame）。该测试方法的目的是定义测量屏障之间界面剪切...

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AEC-Q100-008A：2003 Early Life Failure Rate (ELFR) - 完整英文电子版（6页）. 《AEC-Q100-008A：2003早起失效率(ELFR)》是针对汽车电子行业的标准文档，旨在确保汽车半导体组件的可靠性。这份6页的完整英文电子版详细介绍了ELFR的概念、计算方法以及其在产品质量评估中的应用。 早起失效率...

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