可测性设计

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可测性设计

: 软件可测试性设计 1概述　随着软件行业的迅猛发展，软件测试也逐渐受到越来越多的软件公司所... 　本文描述的范围：可测试性定义、可测试性特征、可测试性设计。　读者对象：系统分析和设计人员、开发人员、测试人员。　参考文献：
评级：0 浏览量：317 收藏量：0 资源大小：69KB 上传时间：2021-03-23

: 数字系统可测性设计 数字系统可测性设计，可测性设计，开发，时延测试，敏化测试
评级：1 浏览量：762 收藏量：1 资源大小：32.48MB 上传时间：2018-04-18

: 华为硬件可测性设计规范.pdf 华为硬件可测性设计规范1范围 2定义 3功能测试可测性设计规范3.1功能测试装备原理说明 3.2 单板功能测试可测性设计 3.2.1机械结构的可测性设计 3.2.2自检和自环 3.2.3测试夹具 3.2.4其他 4 ICT可测性设计规范 4.1...
评级：1 浏览量：2089 收藏量：13 资源大小：202KB 上传时间：2020-05-09

: 集成芯片的可测性设计技术 可测性设计(DFT, Design for Testability)技术是针对集成芯片测试难题而提出的一种解决方案。随着芯片集成度的不断提升，测试成本增加，测试效率成为影响产品上市时间和经济效益的关键因素。传统的测试方法难以应对...
评级：0 浏览量：252 收藏量：1 资源大小：139KB 上传时间：2020-11-10

: 一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法随着VLSI的发展，可测性将成为芯片设计的主要依据，本文论述了ASIC可测性的三种设计方法，并对三种方法做出了比较，最后给出了一个使用的可测性设计环境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT)
评级：0 浏览量：105 收藏量：1 资源大小：424KB 上传时间：2021-07-07

: JTAG可测试性设计指南 XJTAG公司提供的关于JTAG可测性设计指南，详细地描述硬件应该如何设计才能满足边界扫描测试的要求。所多时候边界扫描不稳定或是进不了模式都跟前期Layout息息相关，这篇文章比较适合开发人员及测试人员观看。
评级：0 浏览量：15 收藏量：0 资源大小：1.01MB 上传时间：2024-10-05

: 集成电路面试必备之可测性设计的Rombist 随着半导体工艺的发展，可测性技术成为每个芯片在设计中必须考虑的问题，如何高效和高质量的测试芯片中的内嵌Memory，成为DFT技术中的关键技术，本文针对rombist中的memory model的产生算法和结果做一个分析和总结，...
评级：0 浏览量：360 收藏量：1 资源大小：912KB 上传时间：2021-07-07

: 针对多级串联模拟电路的可测性设计技术针对串联结构的模拟电路提出一种可测性设计结构，该结构大大提高了电路内系统模块的可测试性，减少了需要额外引出的I/ O 数，同时不随内部模块数的增加而增加，并且可以与数字电路的边界扫描技术相兼容，通过在...
评级：0 浏览量：92 收藏量：1 资源大小：474KB 上传时间：2021-01-20

: 可测性设计技术 ### 可测性设计技术深度解析 #### 引言随着微电子技术的飞速进步，集成电路（IC）的复杂度显著提升，芯片集成度的不断攀升，传统的测试方法和模型逐渐暴露出局限性，无法有效应对现代集成电路的测试需求。由此...
评级：0 浏览量：101 收藏量：0 资源大小：377KB 上传时间：2011-12-30

: ASIC可测试性设计技术.pdf 可测性设计（Design For Testability）技术就是试图增加电路中信号的可控制性和可观察性，以便提高电路的可测试性。 3. Ad Hoc 技术和结构化设计技术 Ad Hoc 技术和结构化设计技术是两种常用的可测性设计技术。Ad ...
评级：0 浏览量：99 收藏量：1 资源大小：1.47MB 上传时间：2023-03-28

: 采用时钟复用技术提高可测性设计的故障覆盖率基于扫描路径法的可测性设计技术是可测性设计（DFT）技术的一个重要的方法，这种方法能够从芯片外部设定电路中各个触发器的状态，并通过简单的扫描链的设计，扫描观测触发器是否工作在正常状态，以此来检测电路的...
评级：0 浏览量：154 收藏量：0 资源大小：138KB 上传时间：2021-01-20

: 第五章集成电路测试与可测试性设计 集成电路测试与可测试性设计 本章主要讲述了集成电路测试与可测试性设计的基本概念、集成电路测试概述、故障模型、测试生成、故障模拟、可测试性设计（Design for Test，DFT）等内容。 1. 测试与可测试性设计的...
评级：0 浏览量：91 收藏量：0 资源大小：1.82MB 上传时间：2023-02-20

: PCB 可测性设计 在电子制造领域中，PCB（印刷电路板）的可测性设计（Design for Testability，简称DfT）是非常重要的一环。为了提高PCB的检测和故障诊断能力，从而提升其维修性，设计工程师必须在电路板的设计阶段就考虑可测试性的...
评级：0 浏览量：39 收藏量：0 资源大小：61KB 上传时间：2021-05-10

: 可测试性设计与ATPG.ppt 非常详细的DFT入门资料，详细介绍了常见的DFT模型，以及Scan mode测试技术。最后介绍了ATPG Flow。
评级：0 浏览量：1966 收藏量：7 资源大小：1.84MB 上传时间：2020-04-30

: 可测性设计与ATPG生成 ### 可测性设计与ATPG生成 #### 一、可测性设计（DFT） **可测性设计**(Design for Testability, DFT)是一种旨在简化和优化集成电路（IC）测试过程的设计策略。在IC设计阶段加入DFT技术能够显著提高测试效率，降低...
评级：0 浏览量：120 收藏量：0 资源大小：1.8MB 上传时间：2024-05-09

: 数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用为了让大家都找得到免费的学习资料，特此免费免积分下载，为我国IC行业的发展贡献绵薄之力。文件不是很清晰，但是看得清楚，多多包涵。
评级：0 浏览量：521 收藏量：4 资源大小：3.89MB 上传时间：2021-06-25

: VLSI测试与可测性设计 第3讲.pdf ### VLSI测试与可测性设计概述 #### 标题理解：“VLSI测试与可测性设计 第3讲” 本课程标题明确指出此次讲座的主题是“VLSI（Very Large Scale Integration）测试与可测性设计”。VLSI指的是超大规模集成电路，...
评级：0 浏览量：20 收藏量：0 资源大小：392KB 上传时间：2024-04-12

: VLSI测试与可测性设计 第2讲.pdf ### VLSI测试与可测性设计概览 #### 一、引言在半导体行业中，随着集成电路（IC）尺寸的不断缩小和技术的进步，验证和确保集成电路的质量变得日益复杂且成本高昂。本章节《VLSI测试与可测性设计》深入探讨了...
评级：0 浏览量：25 收藏量：0 资源大小：194KB 上传时间：2024-04-12

: 集成电路可测性设计.pptx 集成电路可测性设计 集成电路可测性设计是指在集成电路设计阶段考虑测试问题，把电路设计得容易测试一些，包括缩短测试时间、简化测试设备、使本来不可测的部分能够进行检测等，从而大大降低测试成本。测试的概念和...
评级：5 浏览量：39 收藏量：0 资源大小：1.05MB 上传时间：2024-01-03

: 可测性设计和DFT软件的使用专题培训课件.ppt 可测性设计和DFT软件的使用专题培训课件 可测性设计和DFT软件的使用专题培训课件是关于数字电路测试和故障诊断的专门培训课程，旨在帮助学习者掌握可测性设计和DFT软件的使用方法，提高测试和故障诊断的效率。 DFT...
评级：0 浏览量：246 收藏量：2 资源大小：1.09MB 上传时间：2022-12-21

: VLSI测试与可测性设计 第5讲.pdf 根据给定文件的信息，我们可以详细地探讨“VLSI测试与可测性设计”这一主题。本篇将重点介绍半导体测试中的自动测试向量生成（ATPG）技术及相关概念。 ### VLSI测试与可测性设计概述 #### 1. VLSI测试的基本概念 ...
评级：0 浏览量：27 收藏量：0 资源大小：132KB 上传时间：2024-04-12

: VLSI测试与可测性设计 第10讲.pdf ### VLSI测试与可测性设计：第十讲——逻辑诊断 #### 半导体测试：VLSI测试与可测性设计概述在集成电路（IC）的设计与制造过程中，测试与可测性设计（Design for Testability, DFT）扮演着极其重要的角色。随着...
评级：0 浏览量：26 收藏量：0 资源大小：500KB 上传时间：2024-04-12

: VLSI测试与可测性设计 第7讲.pdf ### VLSI测试与可测性设计：第7讲概览 #### 半导体测试：VLSI测试与可测性设计 本章节聚焦于VLSI（超大规模集成电路）测试及其可测性设计原则，特别关注逻辑内置自测（Logic BIST）的相关概念和技术。随着半导体...
评级：0 浏览量：101 收藏量：0 资源大小：359KB 上传时间：2024-04-12

: 高频锁相环的可测性设计 《高频锁相环的可测性设计》这篇文章探讨了如何运用IEEE1149.1标准的边界扫描技术来优化模拟电路，特别是高频锁相环的可测性设计。高频锁相环在现代电子设备中扮演着关键角色，因为它们能够生成精确的时钟信号，对...
评级：0 浏览量：79 收藏量：0 资源大小：168KB 上传时间：2020-08-11

: VLSI测试方法学和可测性设计 一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计
评级：1 浏览量：256 收藏量：0 资源大小：6.68MB 上传时间：2016-01-17

: 一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案.pdf 实验结果表明，该方案可以高效、方便和准确地完成低功耗SoC的可测性设计，并且在自动测试仪上可以成功完成各种测试，达到组合逻辑和时序逻辑的扫描链测试覆盖率98.2%。关键词中提到的低功耗、系统芯片（SoC）、内...
评级：0 浏览量：80 收藏量：0 资源大小：299KB 上传时间：2021-07-26

: 基于2.5D工艺的chiplet的可测性设计 ### 基于2.5D工艺的chiplet的可测性设计 #### 一、2.5D异构集成微系统的定义与背景在半导体技术发展的道路上，2.5D和3D集成技术因其独特的封装方式和优异的性能表现而受到广泛关注。2.5D集成技术指的是通过中介层...
评级：0 浏览量：67 收藏量：0 资源大小：14.83MB 上传时间：2024-03-24

: 面向系统芯片的可测性设计.pdf 面向系统芯片的可测性设计.pdf
评级：0 浏览量：14 收藏量：0 资源大小：123KB 上传时间：2024-10-09

: 嵌入式存储器的测试及可测性设计研究引言　近年来，消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动...现在的SoC中，存储器通常占据整个芯片的大部分面积，并且可能包括各种类型的嵌入式存储器，如DRAM、SRAM及Flash存储器等，可满足不同的应用需要
评级：0 浏览量：133 收藏量：0 资源大小：137KB 上传时间：2021-01-19

: VLSI测试方法学和可测性设计part3 VLSI测试方法学和可测性设计--Part3
评级：0 浏览量：151 收藏量：0 资源大小：4.05MB 上传时间：2016-01-17

: 分析多级串联模拟电路的可测性设计技术数字电路有很多成熟的可测性设计技术（design fortest,DFT），模拟电路测试还未发展到如此成熟，缺乏完善的模型进行自动化测试。随着集成电路的发展，混合信号芯片功能越来越复杂，但芯片I/O口数量跟不上芯片发展的...
评级：0 浏览量：118 收藏量：0 资源大小：250KB 上传时间：2021-01-20

: VLSI测试方法学和可测性设计part2 VLSI测试方法学和可测性设计--Part2
评级：1 浏览量：171 收藏量：0 资源大小：6.68MB 上传时间：2016-01-17

: 大规模数字电路系统可测性设计技术研究《大规模数字电路系统可测性设计技术研究》在当今微电子技术和计算机科学飞速发展的时代，大规模数字电路系统在各个领域中扮演着至关重要的角色。然而，随着电路规模的不断扩展，系统复杂度的增加，传统的测试方法...
评级：0 浏览量：162 收藏量：2 资源大小：532KB 上传时间：2020-10-16

: 电子测量中的高频锁相环的可测性设计 可测性设计（Design for Test，DFT）最早用于数字电路设计。随着模拟电路的发展和芯片集成度的提高，单芯片数模混合系统应运而生，混合电路测试，尤其是混合电路中模拟电路的测试，引起了设计者的广泛关注。边界...
评级：0 浏览量：120 收藏量：0 资源大小：88KB 上传时间：2020-12-09

: 可测性设计及软件的使用(与“测试”有关的文档共48张).pptx 可测性设计(DFT, Design for Testability)是电子设计领域的一个重要概念，它涉及到如何在硬件和软件设计阶段就考虑到未来测试的便利性，以提高产品的质量和可靠性。本资料是一份包含48页的PPT，主要讲解了可测性设计...
评级：0 浏览量：27 收藏量：0 资源大小：15MB 上传时间：2022-11-14

: 高速串行数据接收器IC的可测性设计 高速串行数据接收器IC的可测性设计 来新泉张劼集成电路芯片的测试已经成为现代集成电路设计的关键，本方案针对高速串行数据接收器专用集成电路的测试难点，提出了可行的测试电路，通过添加测试引脚、设计专用测试...
评级：0 浏览量：107 收藏量：0 资源大小：79KB 上传时间：2020-12-09

: 数字集成电路可测性设计及验证方法学数字集成电路的可测性设计及验证方法学是集成电路设计领域中不可或缺的部分，它确保设计的芯片能够有效地被测试，以便发现并修正生产过程中的缺陷。设计可测性（DesignForTest, DFT）的概念出现在20世纪60年代，旨在...
评级：0 浏览量：331 收藏量：1 资源大小：1.52MB 上传时间：2019-05-06

: 16位定点DSP“ES51D16”的可测性设计-综合文档在本文中，我们将深入探讨16位定点数字信号处理器（DSP）——ES51D16的可测性设计。16位定点DSP是电子工程领域中的一种关键组件，广泛应用于音频处理、图像处理、通信系统以及其他需要高效计算能力的嵌入式应用中。...
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: 参考资料-PCB 可测性设计.zip 《PCB可测性设计》是一份深入探讨印刷电路板（PCB）设计中的关键环节——可测性设计的专业参考资料。这份压缩包包含一个PDF文件，详细阐述了如何在PCB设计过程中考虑到测试的便捷性和有效性，以确保产品的质量和可靠...
评级：0 浏览量：39 收藏量：0 资源大小：56KB 上传时间：2022-01-18

: FPGA研发之道(16)-可测性设计—从大数据开始说起在FPGA设计中，可测性设计(Design for Testability, DFT)是一个至关重要的环节，它旨在在设计初期就考虑到后期的测试和调试需求。本文以“FPGA研发之道(16)-可测性设计—从大数据开始说起”为主题，探讨了如何利用...
评级：0 浏览量：64 收藏量：0 资源大小：100KB 上传时间：2020-08-21

: 基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析边界扫描技术是电子行业中的一种测试技术，应用于电路板的测试和故障诊断。该技术基于IEEE 1149.1标准，能够增加电路板的可测性和可控制性，从而提高电路板的测试效率和...
评级：0 浏览量：82 收藏量：0 资源大小：70KB 上传时间：2020-08-05

: 可测性设计基础知识和流程.pdf 可测性设计（Design for Testability, DFT）是集成电路（IC）设计中的关键环节，它旨在确保制造出的芯片能够被有效地测试，从而检测并排除生产过程中的缺陷。本资料主要介绍了可测性设计的基本知识、制造缺陷的概念...
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: PCB板的可测性设计探索.pdf 可测性设计（Design for Testability，DfT）是指在设计阶段就考虑产品的测试需要，通过设计手段减少测试成本和提高测试效率。本文档探讨了PCB板设计中可测性设计的概念、方法和技术，对于硬件开发人员来说是十分重要...
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: 浅谈数字电路的可测性设计 ### 数字电路的可测性设计 #### 一、引言随着微电子技术和计算机科学的飞速发展，数字集成电路的集成规模不断增大，集成电路芯片和印刷电路板（PCB）的密度也在不断提高，再加上表面安装技术（SMT）的应用，使得...
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: 可测性分析和实践软件测试中可测性一般是指对系统的可控性、可观测性进行的评估，借以反映系统设计、实现对测试的友好程度和相应的测试成本。可测性在测试阶段会对系统的测试成本及关联产品代码的Patch次数产生重大影响。如何提高可...
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