为满足大规模数字电路系统测试、故障诊断的需要，可测性(DFT)设计已成为大规模数字电路系统设计中不可或缺的重要组成部分。结合边界扫描测试原理和大规模数字电路系统的主要特点，研究DFT实现的技术途径，并将其用于某大规模数字电路系统的设计中。实现了该大规模数字电路系统的一键式互连故障诊断及可扫描网络准确定位，有效简化了测试复杂度。
《大规模数字电路系统可测性设计技术研究》
在当今微电子技术和计算机科学飞速发展的时代，大规模数字电路系统在各个领域中扮演着至关重要的角色。然而，随着电路规模的不断扩展，系统复杂度的增加，传统的测试方法面临着巨大的挑战。可测性设计（Design for Testability, DFT）作为一种解决之道，成为了大规模数字电路系统设计中不可或缺的部分。本文旨在探讨如何结合边界扫描测试原理，优化DFT技术，以适应大规模数字电路系统测试和故障诊断的需求。
边界扫描测试，源于IEEE 1149.1标准，是当前主流的数字集成电路测试技术。该技术通过在芯片的输入/输出管脚和内部逻辑之间添加边界扫描单元（Boundary Scan Cell, BSC），构建扫描链路，实现对芯片状态的控制和观察，无需额外的物理测试设备。在边界扫描模式下，测试向量可以通过测试数据输入端口（TDI）串行输入，经过一系列BSC传递并作用于芯片，然后从测试数据输出端口（TDO）获取响应，实现故障诊断和互连测试。
文章中，作者张昊针对大规模数字电路系统的特点，研究了如何将边界扫描技术应用于系统设计中，实现一键式互连故障诊断和可扫描网络的精确定位。这种方法显著降低了测试复杂度，提高了测试效率，对于批量生产和质量控制具有重大意义。相比于文献中仅依赖单个器件边界扫描链的设计方法，本文提出的方案更注重整个系统的扫描链路管理和规划，从而提升了系统的可测性和故障覆盖率。
在实际应用中，边界扫描测试技术不仅可以对纯数字电路进行故障诊断，还可以扩展到混合信号电路的测试，通过边界扫描单元控制数字部分，进而影响模拟部分，实现整体系统的测试。然而，对于大规模系统而言，单纯依靠边界扫描可能不足以覆盖所有可能的故障，因此，设计时需要结合其他DFT技术，如内置自测试（Built-In Self-Test, BIST）、多模式测试、压缩测试等，以提升测试覆盖率和诊断效率。
本文的研究对提升大规模数字电路系统的可测性设计水平，降低测试成本，以及改善系统故障诊断的准确性和速度有着显著的贡献。未来的研究方向可能包括进一步优化DFT策略，开发更加智能化的测试算法，以及探索新型测试接口和协议，以适应更加复杂和庞大的数字电路系统。
