热氧化法制备TiO2薄膜电极及其光电流性能 (2012年)

采用热氧化钛片的方法制备了TiO2薄膜电极,然后利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、荧光光致发光(PL)、拉曼光谱(Raman)、光电流和光电压等实验技术进行表征,考察了不同热处理温度对薄膜的形貌、晶相结构、光学性质和光电流性能等的影响.结果表明:随着热处理温度由300℃提高到600℃,在钛片表面上逐步生成晶粒细孝多孔且荧光强度逐渐降低的纯金红石TiO2薄膜,并可获得分别为0.154 mA/cm2和0.3 V的最大阳极光电流和光电压,而继续增大热处理温度虽有助于氧化膜的形成,但光电流和光电