. . . .
技术说明书
1.系统简介本筛选台是参照日本 JIS 标准与国家标准,并利用“75〞期间快
速筛选成果研制而成。采用微电脑控制,利用二极管热敏参数作为失效判
据,在 3-5 秒对各二极管的 V
F
、
I
R
、
V
DR
进展常温和高温一次性测试筛选,并
能剔除热阻大,瞬间热开路,高温漏电流大等热不稳定性器件,不仅可以
替代常规测试,而且可取代直流老化和高温热测。
2. 主要技术指标:
正向压降 V
F(1-4)
测试围:0.1V — 2V 误差±5%
测试条件:1mA— 10A 误差±5%
反向漏电 I
R(1-4)
测试围: 0.1uA — 1mA 误差±5%
测试条件: 5V — 1000V 误差±5%
反向压降 V
DR(1-4)
测试围:20V — 1000V 误差±5%
测试条件: 1uA — 1mA 误差±5%
加温电流 I
T
: 0.1A — 10A
加温时间 T :
((1-4)
0 — 10S
3. 主要功能:
3.1 能测试加温前、加温后的各个参数,并能任意选择全部或局部选
项,一次性自动检测。
3.2 可任意设定测试条件与判据,并保存在系统中,通过浏览方式任意调
取。
3.3 测试结果在大屏幕液晶显示器 LCD 上显示,超标器件自动声光报警。
1 / 15