转向使用即插即用的分层DFT的好处.pdf
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2019-09-05
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转向使用即插即用的分层 DFT 的好处
作者：Ron Press
一、背景
传统的全芯片 ATPG 正日渐衰退，对于许多现有的和未来的集成芯片器件来
说，一项主要挑战就是如何为庞大数量的设计创建测试图案。对于有百万门甚至
数亿门的设计，传统上等到设计完成再创建测试图案的方法是不切实际的，产生
所有这些图案需要庞大的计算能力和相当多的时间。分层可测试性设计通过在区
块或内核上完成了 DFT 插入和图案生成解决了这个问题。这大大减少了图案生
成时间和所需的计算资源。它还能让你在设计过程中提前完成大部分 DFT 和图案
生成，从而大幅提高可预测性并降低风险。本文将介绍分层 DFT 流程的：插入
扫描包装器 (Wrapper)、为内核生成灰盒图像，将内核级图案重定向到集成芯片
顶层的简单映射步骤。
二、为什么即插即用是合理的？
即插即用这种方法带来的一个重要好处就是，在设计过程中你可以在内核层
面提前完成所有工作。这降低了许多类型的风险，因为任何问题都可以提前解决，
让最终芯片测试架构和结果变得更可预见。在内核层面做更多的测试工作还能让
各单独的开发团队独立工作，然后向做芯片集成工作的同事交付标准的 DFT 操
作和测试图案等数据。此外，一旦设计和图案数据完成，同样的数据可以被重新
用于任何使用该内核的芯片设计。即插即用方法同样非常灵活。如果设计出现问
题，需要进行工程更改（ECO），那么只需要对进行 ECO 的内核重新生成测试图案。
三、使用包装器链打造独立内核
分层和内核的即插即用方法的基本要求之一是，确保每个内核可以独立进行
测试。DFT 工具可以从内核 IO 开始，并横穿内核逻辑直到找到第一个寄存器，
然后将其包括在包装器链中。这些单元由于同时执行功能性任务和测试任务，因
而被称为共享包装器单元。许多设计包含寄存器 IO，这样进出内核的信号的时
序能得到很好地确定。这使包装器插入变得非常简单。
包装器链同时还支持顶层 IC 建模和规则检查。一旦包装器链被插入，DFT 工
具程序可以分析任何内核，并找出 IO 和包装器链之间存在什么样的逻辑。利用
该逻辑，内核的部分图像被写出，我们称之为灰盒（图1）。灰盒被用来验证内核
在顶层的连接是否正确（设计规则检查），同时也被用来创建各种内核之间的简
单互连测试。
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