基于田口质量损失函数的非正态EWMA控制图优化设计 (2011年)

结合随机过程均值偏移的概率分布和田口质量损失函数,研究了非正态EWMA控制图的优化设计问题。利用Burr分布近似各种非正态分布,使田口质量损失函数的总平均值最小进而确定参数的最优值,对比研究表明该方法设计的非正态EWMA( ML-EWMA)控制图明显优于统计方法设计的非正态EWMA控制图,具有较小的质量损失。