没有合适的资源?快使用搜索试试~ 我知道了~
针对CMOS成像器件结构的特殊性,发展并提出了“像元光子转移技术”法测量增益和读出噪声。同时对CMOS器件的线性度、满阱电荷、暗流、不均匀性和量子效率等性能的测试方法进行了研究。最后基于2 k×2 k CMOS芯片进行了性能测试实验,实验结果验证了该测试方法的可行性和可靠性。
资源推荐
资源评论
资源评论
weixin_38673921
- 粉丝: 8
- 资源: 969
上传资源 快速赚钱
- 我的内容管理 展开
- 我的资源 快来上传第一个资源
- 我的收益 登录查看自己的收益
- 我的积分 登录查看自己的积分
- 我的C币 登录后查看C币余额
- 我的收藏
- 我的下载
- 下载帮助
安全验证
文档复制为VIP权益,开通VIP直接复制
信息提交成功