一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构 (2006年)

由于超大规模集成电路技术的快速进步，测试数模混合电路变得越来越困难。针对DAC的测试问题，采用了一种内建自测试(BIST)的测试结构，用模拟加法器把电压测量转换成时间测量的方法，分析并给出了如何利用该结构计算DAC的静态参数。利用该方法，既可以快速得到DAC的静态参数，又提高了测试精度，使得测试电路简单、紧凑和有效。