论文研究 - 集成电路互连可靠性全球趋势的回顾

从集成电路（IC）的早期设计阶段开始，互连可靠性已被视为一门必须认真考虑的学科。 为了研究互连可靠性的现状和趋势，对已发表的文献进行了全面回顾。 这可以描述IC互连可靠性的全球趋势，并帮助新进入者了解这一领域的现状。