用磁控溅射法制备了不同Mn含量的PtMn/Co多层膜,通过大、小角X射线衍射谱对该多层膜进行结构分析,研究了该多层膜的层状结构同磁光克尔效应的关系;通过测定该多层膜在不同杂质浓度下的克尔谱、椭偏率谱及克尔回线,发现克尔角随Mn含量增加的变化规律,并分析了它的产生机制.
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