### 关于近景摄影机检校的几个问题
#### 近景摄影机检校内容
近景摄影机检校是一项确保摄影机各项参数准确的重要工作，对于后续的图像处理至关重要。检校的主要内容包括但不限于：
1. **主点位置(x0,y0)与主距(f)的测定**：主点位置是指摄影机镜头主轴与像面的交点在像面上的位置坐标，而主距则是指摄影机镜头主点到像面的距离。这两项参数对于构建正确的摄影几何模型至关重要。
2. **光学畸变系数的测定**：光学畸变是指由于透镜本身的物理特性导致的图像变形，主要包括径向畸变和切向畸变。通过测定畸变系数可以校正这些畸变，提高图像质量。
3. **压平装置以及像框坐标系的设定**：为了保证图像的一致性和可重复性，需要设定统一的压平装置和像框坐标系。
4. **调焦后主距变化的测定与设定**：调焦过程中，主距会发生变化，这会影响到后续的图像处理结果。因此，需要测定调焦后的主距变化，并进行相应的设定。
5. **调焦后畸变差变化的测定**：除了主距的变化之外，调焦还可能导致畸变程度发生变化。测定这些变化并进行修正也是必要的。
6. **摄影机偏心常数的测定**：偏心常数指的是摄影机镜头主轴与像面之间可能存在的微小偏差，测定这一参数可以帮助进一步提高检校的准确性。
7. **立体摄影机（及立体视觉系统）内方位元素与外方位元素的测定**：对于立体摄影机而言，还需要测定其内方位元素（如主距、主点位置等）和外方位元素（如摄影机位置和姿态）。
8. **多台摄影机同步精度的测定**：在多摄影机协同工作的场景下，需要确保它们之间的时间同步精度，这对于立体匹配等高级应用尤为重要。
#### 内方位元素的检定精度要求
内方位元素（如主距、主点位置）的检定精度直接影响到后续的图像处理效果。理论上，检定精度要求与被测物的测定精度紧密相关。具体来说：
- 当被测物体深度差异较大时，内方位元素的测定精度要求较高。
- 主距越大、被测物深度越小时，内方位元素的测定精度要求越低。
- 在实际应用中，根据不同的测量任务和环境条件，检定精度要求也会有所不同。例如，在一些高精度的应用场景中，内方位元素的检定精度可能会要求达到0.01mm级别。
#### 近景摄影机检校方法分类
近景摄影机检校方法可以根据不同的需求和应用场景进行分类。其中一种分类方法是基于解求内方位元素和光学畸变的目的：
1. **光学实验室检校(Optical Laboratory Calibration)法**：适用于调焦到无穷远的近景量测摄影机检校。通常采用室内固定准直管或可转动的精密测角仪作为基本设备。通过这些设备可以精确地测定摄影机的各项参数。
- 准直管方法：通过将多个准直管按照已知角度布置在物方，并在像方放置感光片，利用准直管上的十字丝在感光片上的成像来计算主距和畸变差。
- 测角仪方法：在像方设置精密格网板，在物方安置可转动的测角仪。这种方法主要用于测定摄影机的内部参数，如主距和主点位置。
以上介绍的检校内容、精度要求及方法分类为近景摄影机检校提供了一个较为全面的理解框架。根据不同应用场景的需求选择合适的检校方法和技术，可以有效提升图像处理的准确性和效率。
