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一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置与流程.docx
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I
一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置与流程
[0001]
本申请涉及半导体存储器测试技术领域,具体涉及一种半导体存储器测试软件的参数测试方
法和装置。
背景技术:
[0002]
nand 闪存芯片在测试过程中,坏块的生成是衡量其质量的重要指标。现阶段,多接受软件
测试的方式来检测 nand 闪存是否存在坏块,且该方法属于目前常用的方法。尽管推断是否
生成坏块的软件参数有很多,但如何获得精确 的软件参数则是目前对结果精确 性
造成影响的关键因素,由于只有在确认推断坏块的软件参数功能是正常的前提下,才能保证
nand 闪存在测试过程中生成坏块的结果是可信的。
[0003]
为提高 nand 闪存测试结果的牢靠性,现供应一种 nand 闪存的推断坏块的软件参数的测试
技术,以满足当前测试需求。
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II
技术实现要素:
[0004]
本申请供应一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置,对测试参数进行合理设定并
组合,对半导体存储器的坏块状况进行模拟,利用高效的验证方式对不同的测试参数组合进
行验证,以求获得精确 度较高的测试参数作为测试依据,从而充分保障了测试的合理
性、规范性、正确性以及牢靠性。
[0005]
第一方面,本申请供应了一种半导体存储器测试软件的参数测试方法,所述方法包括以下步
骤:依据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合;依据所述半导体存储器的参数信
息,设定多组预设错误数量组合;分别依据各所述预设错误数量组合配置所述半导体存储
器,利用各所述测试参数组合测试配置后的各所述半导体存储器,并将各自对应的测试结果
与对应的所述预设错误数量组合比对,验证各所述测试参数组合是否合理;其中,多种所述
测试参数组合通过 chunk 尺寸参数、起码 2 种保存 fbc 推断参数、起码 2 种 fbc 错误限制参
数、起码 2 种 chunk 错误限制参数以及起码 2 种 page 错误限制参数组合获得,所述预设错
![](https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/37243583/bg3.jpg)
III
误数量组合均包括 page 错误个数、chunk 错误个数以及 byte 错误个数。
[0006]
具体的,所述依据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合,包括以下步骤:猎取所
述半导体存储器的 page size,依据所述 chunk 尺寸参数,设定测试时所述半导体存储器中
一个 page 的 chunk 数量;依据所述半导体存储器中一个 page 的 chunk 数量,设定起码 2
种所述 chunk 错误限制参数以及起码 2 种所述 page 错误限制参数;依据所述 chunk 尺寸
参数,设定多种所述保存 fbc 推断参数以及多种所述 fbc 错误限制参数。
[0007]
具体的,起码 2 种所述 chunk 错误限制参数以及起码 2 种所述 page 错误限制参数中,均包
括 0 和 1 两种状况。
[0008]
进一步的,所述方法还包括以下步骤:将各 block 中的 fbc 值与所述保存 fbc 推断参数比
对,当所述 block 中的 fbc 值大于所述保存 fbc 推断参数时,则保存对应的所述 block 的
fbc 文件。
[0009]
具体的,所述利用各所述测试参数组合测试配置后的所述半导体存储器中,包括以下步骤:
推断所述半导体存储器的各 chunk 的 fbc 值是否大于 fbc 错误限制参数,从而判定各所述
![](https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/37243583/bg4.jpg)
IV
chunk 是否失效;推断失效的所述 chunk 的总数是否大于所述 chunk 错误限制参数,从而
判定对应的各所述 page 是否失效,推断失效的所述 page 的总数是否大于 page 错误限制
参数,从而判定所述半导体存储器是否存在坏块。
[0010]
其次方面,本申请供应了一种半导体存储器测试软件的参数测试装置,所述装置包括:测试
参数设定模块,其用于依据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合;错误模拟模
块,其用于依据所述半导体存储器的参数信息,设定多组预设错误数量组合;模拟测试模
块,其用于分别依据各所述预设错误数量组合配置所述半导体存储器,利用各所述测试参数
组合测试配置后的所述半导体存储器,并将各自对应的测试结果与对应的所述预设错误数量
组合比对,验证各所述测试参数组合是否合理;其中,多种所述测试参数组合通过 chunk 尺
寸参数、起码 2 种保存 fbc 推断参数、起码 2 种 fbc 错误限制参数、起码 2 种 chunk 错误限
制参数以及起码 2 种 page 错误限制参数组合获得,所述预设错误数量组合均包括 page 错
误个数、chunk 错误个数以及 byte 错误个数。
[0011]
进一步的,所述测试参数设定模块还用于猎取所述半导体存储器的 page size,依据所述
chunk 尺寸参数,设定测试时所述半导体存储器中一个 page 的 chunk 数量;所述测试参数
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V
设定模块还用于依据所述半导体存储器中一个 page 的 chunk 数量,设定起码 2 种所述
chunk 错误限制参数以及起码 2 种所述 page 错误限制参数;所述测试参数设定模块还用于
依据所述 chunk 尺寸参数,设定多种所述保存 fbc 推断参数以及多种所述 fbc 错误限制参
数。
[0012]
具体的,起码 2 种所述 chunk 错误限制参数以及起码 2 种所述 page 错误限制参数中,均包
括 0 和 1 两种状况。
[0013]
进一步的,所述模拟测试模块还用于将各 block 中的 fbc 值与所述保存 fbc 推断参数比对,
当所述 block 中的 fbc 值大于所述保存 fbc 推断参数时,则保存对应的所述 block 的 fbc 文
件。
[0014]
进一步的,所述模拟测试模块还用于推断所述半导体存储器的各 chunk 的 fbc 值是否大于
fbc 错误限制参数,从而判定各所述 chunk 是否失效;所述模拟测试模块还用于推断失效的
所述 chunk 的总数是否大于所述 chunk 错误限制参数,从而判定对应的各所述 page 是否
失效,
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