计算机组成原理实验报告二：半导体存储器原理实验
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2011-04-03
13:26:54
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实验题目_ 半导体存储器原理实验 __ _________________ _
1. 实验目的与要求：
实验目的：
1、掌握静态存储器的工作特性及使用方法。
2、掌握半导体随机存储器怎样存储和读出数据。
实验要求：
1、实验前，要求做好实验预习，掌握 6116 型 RAM 存储器的功能特性和使用
方法。
2、实验过程中，要认真进行实验操作，仔细思考实验有关的内容，把自己想
得不太明白的问题通过实验去理解清楚，争取得到最好的实验结果，达到预期
的实验教学目的。
3、实验完成后，写好实验报告。
2. 实验方案：
1、按图 2-2 在实验仪上接好线后，仔细检查无误后接通电源。
2、按题目要求进行写地址操、写内容操作和读内容操作。
① 写地址操作：置 CE=1,LDAR=1,SW-B=0,按下 START 开关，当 T3 脉冲
到来时，可把数据开关上的数据作为地址送入地址寄存器 AR 中，指定了需要
存数的地址单元。
② 写内容操作：在完成写地址操作后。置 CE=0,LDAR=0,SW-B=1,WE=1,
按下 START 开关，即 T3 脉冲到来时，把数据开关上的数据写入指定的地址单
元内。
③ 读 内 容 操 作 ： 先 做 写 地 址 操 作 ， 输 入 要 访 问 的 地 址 单 元 ， 然 后 置
CE=0,LDAR=0,SW-B=1,WE=0，可把该存储单元的内容读出来。
3. 实验结果和数据处理：
表 2.1
控制信号 写地址 写内容 读内容
SW-B
0 0 1
LDAR
1 0 0
CE
1 0 0
WE
X 1 0
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