利用相机响应曲线实现高反光元件三维面形测量.docx
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利用相机响应曲线实现高反光元件三维面形测量 本文提出了一种利用相机响应曲线实现高反光元件三维面形测量的方法。在先进制造中,对加工的部组件进行在线质量检测是非常重要的。然而,金属材质表面反射率差异较大会导致拍摄结构光图像过曝和欠曝光,从而影响最终测量数据的准确性。为了解决这个问题,本文提出了基于相机响应曲线的三维面形测量方法。 首先,我们使用直接测量和计算机辅助设计(CAD)得到的元件设计数据进行迭代最近点(ICP)点云配准,进而得到相机坐标系下的被测物体估算面形的点云数据。然后,我们将该数据作为预估面形,结合系统标定参数,建立投影与成像间同名点的图像强度对应关系。接着,我们利用相机对待测元件上每一点的光强成像响应曲线计算出投影灰度范围和最低投影灰度。最后,我们利用生成的非等值系数投影光栅进行高反光元件的三维形貌测量。 实验结果表明,本方法可以在不改变测量系统结构参数和不增加测量系统结构复杂性的情况下,完整地实现高反光元件的三维面形测量。本方法的提出为高反光元件的质量检测提供了一种新的解决方案,对先进制造和质量检测领域具有重要的理论和实践价值。 在本文中,我们讨论了基于相机响应曲线的三维面形测量方法的原理和实现过程,并对实验结果进行了分析和讨论。我们的研究结果表明,该方法可以实现高反光元件的三维面形测量,具有重要的实践价值。 知识点总结: 1. 高反光元件的三维面形测量在先进制造中非常重要。 2. 投影三维测量技术可以实现在线、非接触的测量。 3. 金属材质表面反射率差异较大会导致拍摄结构光图像过曝和欠曝光。 4. 相机响应曲线可以用于计算投影灰度范围和最低投影灰度。 5. 非等值系数投影光栅可以用于高反光元件的三维形貌测量。 6. 基于相机响应曲线的三维面形测量方法可以完整地实现高反光元件的三维面形测量。 7. 该方法对先进制造和质量检测领域具有重要的理论和实践价值。
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