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Influence of interface roughness on reflectivity of tungsten/bor...
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2021-02-10
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Influence of interface roughness on the reflectivity of Tungsten/boron-carbide (W/B4C) multilayers varying with bi-layer number, N, is investigated. For W/B4C multilayers with the same design period thickness of 2.5 nm, a real-structure model is used to calculate the variation of reflectivities with N=50, 100, 150, and 200, respectively. Then, these multilayers are fabricated by a direct current (DC) magnetron sputtering system. Their reflectivity and scattering intensity are measured by an X-ra
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