电力半导体器件和装置的功率损耗研究 (2000年)

为了提高电力电子装置和电力半导体器件的运行可靠性,提出了估算电力半导体器件损耗和结温的热一电联合计算方法。基于电力半导体器件的瞬态开关特性的测量,构造了器件精确的损耗数学模型,同时考虑了器件的结温对器件损耗的影响。在单个器件损耗模型的基础上分析了电力电子变换装置的损耗,分析了装置中器件及其散热系统组成的热阻网络及各器件的结温。最后设计了两类实验装置分别验证损耗计算的精度,与实验结果的对比表明该方法为合理地设计器件的散热系统、提高电力电子变换装置的效率提供了有效手段。