PLZT(7/40/60)薄膜介电驰豫特征的研究 (2011年)

利用溶胶-凝胶技术制备PLZT薄膜，对样品进行X射线衍射和高频介电谱测试，结果表明：薄膜为钙钛矿结构，呈现[110]择优取向，100MHz介电温谱显示该薄膜具有弛豫铁电体特征，介电频谱表明PLZT薄膜具有介电弛豫特征，体现温度弥散特性，通过理论拟合Cole-Cole曲线得到弛豫时间的分布函数，结合弛豫铁电体特性，对介电频谱的实验与拟合结果进行对比分析。