在本文中,已经进行了系统的研究,以使用电感耦合等离子体蚀刻负性光刻胶SU-8 2005。 研究了波导的刻蚀速率,垂直轮廓,表面和侧壁粗糙度与腔室压力,偏置功率,天线功率,Ar与O-2的流量比以及刻蚀时间之间的关系。 详细研究了蚀刻参数并对其进行了优化,以最大程度地减小蚀刻区域的表面粗糙度。 SU-8 2005的Ridge MZI波导是在优化的蚀刻条件下制造的,从而产生平滑且几乎垂直的图案。 波导显示出在1550 nm波长的单模传播和小于1.565 dB / cm的低传播损耗,这与通过湿蚀刻技术制造的波导相似。