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振镜作为一种二维扫描器件, 可以实现光学元件不同位置处表面情况在CCD相机上的成像, 利用振镜扫描方式无需移动待检测光学元件和成像系统即可完成大口径光学元件表面损伤的扫描检测,提出了一种基于振镜扫描方式的大口径光学元件表面损伤检测方法。利用该方法对光学元件表面损伤点检测进行了验证实验, 通过在元件表面设置基准点, 利用振镜扫描步数及图像处理技术确定损伤点位置及尺寸, 并与光学显微镜观察到的损伤情况进行对比, 结果显示利用振镜扫描方法对元件表面损伤点位置及尺寸的检测结果与光学显微镜检测结果偏差较小。该检测系统分辨率可达到(2.08±0.015) μm/pixel, 检测范围大于2.5 cm, 水平方向和竖直方向位置坐标检测准确度分别为3.76%和1.37%, 损伤点尺寸检测准确度为6.19%, 能够实现较大尺寸光学元件表面损伤点的高准确性检测。
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第
37
卷
第
6
期
光
学
学
报
Vol.37
,
No.6
2017
年
6
月
,
2017
基于振镜扫描方式的光学元件表面损伤检测
郭 亚 晶
,
唐 顺 兴
∗
,
姜 秀 青
,
朱 宝 强
,
林 尊 琪
中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室
,
上海
201800
摘要
振镜作为一种二维扫描器件
,
可以实现光学元件不同位置处表面情 况在
CCD
相机 上的 成像
,
利用 振镜 扫描
方式无需移动待检测光学元件和成像系统即可完成大口径光学元件表面损伤的扫描 检测
,
提出 了一 种基于 振镜 扫
描方式的大口径光学元件表面损伤检测方法
.
利用该方法对光学元件表面损伤点 检测 进行了 验证 实验
,
通过 在元
件表面设置基准点
,
利用振镜扫描步数及图像处理技术 确定 损 伤点 位置 及 尺寸
,
并 与光 学显 微 镜观 察到 的 损伤 情
况进行对比
,
结果显示利用振镜扫描方法对元件表面损伤点位置及尺寸的检测结果与 光学 显微镜 检测 结果偏 差较
小
.
该检测系统分辨率可达到
(
2.08±0.015
)
μ
m
/
p
ixel
,
检测范围大于
2.5cm
,
水平 方向 和竖直 方向 位置坐 标检 测
准确度分别为
3.76%
和
1.37%
,
损伤点尺寸检测准确度为
6.19%
,
能 够实 现较 大 尺寸 光学 元 件表 面损 伤 点的 高准
确性检测
.
关键词
测量
;
损伤检测
;
振镜
;
扫描
;
激光诱导损伤
中图分类号
TN204
文献标识码
A
doi
:
103788
/
2017370612003
收稿日期
:
20161212
;
收到修改稿日期
:
20170213
作者简介
:
郭亚晶
(
1984
—),
女
,
博士
,
助理研究员
,
主要从事高功率激光系统中光束传输等方面的研究
.
:
860501@163
∗
通信联系人
.
:
@
Dama
g
eIns
p
ectionofO
p
ticalSurfaceBasedonGalvanometerScannin
g
NationalLaborator
y
onHi
g
hPowerLaserandPh
y
sics
Shan
g
haiInstituteo
f
O
p
ticsandFineMechanics
ChineseAcadem
y
o
f
Sciences Shan
g
hai
201800
China
Abstract
208±0015
μ
25
376% 137%
619%
Ke
y
words
OCIScodes 1201880140333004018801003008
1
引
言
大口径光学元件的激光诱导损伤是限制激光驱动器通量密度提升的重要因素
,
损伤的产生 不仅降低了
元件寿命
,
而且损伤点对入射激光的阻挡和散射会导致光束波前产生畸变
,
使到达下游光学元件的光场强度
分布发生一定的调制
,
从而降低焦斑质量甚至可能损坏下游元件
[
1G2
]
.
激光诱导元件损伤特性研究及元件损
伤在线检测是提升系统负载能力及保障装置安全运行的重要手段
[
3G4
]
,
尤其损伤在 线检测对检 测精度
、
准确
度
、
检测范围及检测时间等方面都提出严格的要求
.
因此
,
研究更简单
、
快速
、
准确的大口径光学元件损伤在
0612003G1
光
学
学
报
线检测方法有着至关重要的意义
.
目前
,
大口径光学元件激光损伤检测技术研究的关键是解决全口径损伤成像和损 伤高分辨率 之间的矛
盾
.
通常
,
光学元件初始损伤尺寸小于
50
μ
m
,
若达到
50
μ
m
则说明损伤开始增长
,
为了发现和跟踪损伤点
的尺寸变化情况
,
可将
50
μ
m
作为在线检测 系统的检测 尺寸起点
[
5G6
]
.
国家点火装置
(
NIF
)
2007
年报道的
新型终端光学元件在线损伤检测
(
FODI
)
系统
,
利用一个光学望远 镜和高分辨 率
CCD
摄像机
(
4000×4000
)
对被检测元件对焦成像
,
可检测光 学元件尺寸 为
300mm×300 mm
,
系统分 辨 率为
110
μ
m
[
5
]
,
但难以实 现
50
μ
m
尺寸的损伤点检测
.
解亚平等
[
7
]
利用透射式在线检测光路及暗场成像理论设计了一套光学元件在线
检测系统
,
其分辨率为
1mm
,
解决了针 对 大型光学 系 统检测的 大 视场
、
大工作距离问题
,
但 系 统 分 辨 率 较
低
,
且无法区分相近光学器件的损伤
.
大口径光学元件损伤离线检测作为在线检测的比对基准
,
要求其检测
精度较高
.
为了实现高精度损伤检测的要求
,
通常采用扫描方式分区域对大口径光学 元件表面损 伤进行检
测
,
然后利用图像拼接技术实现全口径元件的损伤检测
.
对于大口径光学元件损伤在线检测
,
要同时保证全口径检测及高检测精 度两个方面
,
但
CCD
相机分辨
率和像素尺寸的限制
,
使其不能一次性对整个大口径元件的表面损伤情况成像
.
因此
,
为了满足大口径元件
表面损伤监测需求
,
需要分区域检测光学元件损伤情况
,
并将各区域损伤图像进行拼接来完成全口径内光学
元件损伤情况的检测
,
这可以通过移动成像系统或者被测元件来实现
.
系统中在线使 用的光学元 件已装校
调试好
,
不易于装卸
,
难以通过移动待测元件来实现大口径元件的表面损伤检 测
.
如果要移动 成像系统
,
对
于较复杂的成像系统来说多个元器件的同步移动难以实现
,
且这对保证放大倍率的一致性 和成像都会 产生
不利影响
.
因此
,
有必要寻求更好的检测手段
.
本文提出利用扫描 振 镜 的 方 式 来 实 现 大 口 径 光 学 元 件 的 损 伤 检 测
.
扫 描 振 镜 作 为 一 种 矢 量 扫 描 器
件
[
8G9
]
,
对于固定入射激光来说
,
通过转动振镜的反射镜片可以实现出射激光束的移动
.
相反
,
如果出射激光
束位置固定
,
也可以通过转动振镜的反射镜来实现对不同位置处入射光的接收
.
将扫描振镜 的这种特性 应
用到大口径光学元件表面损伤检测技术中
,
对于被均匀照明的待测元件
,
转动扫描振镜的反射镜片可以使振
镜扫描到待测元件的不同位置
,
镜片反射后成像到
CCD
上
.
这种方法不需要移 动待测元件 或者成像系 统
,
只需转动扫描振镜即可实现对大口径待测元件不同位置处的损伤情况检测
,
这种基于 振镜扫描方 式的损伤
检测方法不仅可以达到较高的检测精度
,
而且通过分区域扫描检测的损伤图像拼接也 可以实现全 口径内光
学元件的损伤检测
.
基于振镜扫描方式进行了光学元件表面损伤检测的验证性实验
,
利用一个具有 二维扫描功 能的二维电
动调整反射镜来实现扫描检测功能
,
通过在元件表面设置基准点
,
利用二维电动调整反射 镜在水平
、
竖直方
向的扫描步数及图像处理技术确定损伤点位置及尺寸
,
并与光学显微镜观察的损伤情 况进行对比
.
基于振
镜扫描方式损伤检测系统的成像分辨率
(
即
CCD
所成图像中每个像素代表的待检测元件 表面的实际 尺寸
)
可达到
(
2.08±0.015
)
μ
m
/
p
ixel
,
扫描检测并拼接图像后可实现的检测总范围大于
2.5cm
,
水平方向和 竖直
方向位置坐标检测准确度分别为
3.76%
和
1.37%
,
损伤点尺寸检测准确度为
6.19%
,
能够实现较大尺寸光学
元件表面损伤点的高准确性检测
.
2
检测原理
2.1
振镜扫描元件分区域成像
基于振镜扫描方式的大口径光学元件表面 损伤检测技 术是通过转 动振镜的反 射镜
1
、
反射镜
2
实现成
像系统对待测元件表面不同位置处损伤情况的扫描式 检测
,
基本原理如 图
1
所示
.
当反射镜
1
和反射镜
2
不转动时
,
光源面
(
xo
y
面
)
上原点
o
处光束经两块镜面反射进入
CCD
内
,
即
E
区域成像到
CCD
内
.
当反射
镜
1
转动
θ
x
角度时
,
F
区域内光束经两块镜面反射进入
CCD
内
,
即扫描沿着
x
方向进行
;
同理
,
当反射镜
2
转动
θ
y
时
,
扫描沿着
y
方向 进 行
.
配合两块 反 射镜的转 动
,
可使
xo
y
面上不同 位 置 处 的 表 面 情 况 成 像 到
CCD
上
.
图
1
中
,
反射镜
1
与反射镜
2
间的距离为
d
x
,
振镜
1
与光源面间的距离为
d
y
,
反射镜转动对应待检测面
上移动位移为
0612003G2
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