基于振镜扫描方式的光学元件表面损伤检测

振镜作为一种二维扫描器件, 可以实现光学元件不同位置处表面情况在CCD相机上的成像, 利用振镜扫描方式无需移动待检测光学元件和成像系统即可完成大口径光学元件表面损伤的扫描检测,提出了一种基于振镜扫描方式的大口径光学元件表面损伤检测方法。利用该方法对光学元件表面损伤点检测进行了验证实验, 通过在元件表面设置基准点, 利用振镜扫描步数及图像处理技术确定损伤点位置及尺寸, 并与光学显微镜观察到的损伤情况进行对比, 结果显示利用振镜扫描方法对元件表面损伤点位置及尺寸的检测结果与光学显微镜检测结果偏差较小。该检测系统分辨率可达到(2.08±0.015) μm/pixel, 检测范围大于2.5 cm, 水平方向和竖直方向位置坐标检测准确度分别为3.76%和1.37%, 损伤点尺寸检测准确度为6.19%, 能够实现较大尺寸光学元件表面损伤点的高准确性检测。