基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层

安全芯片通常在芯片顶层布满主动屏蔽层，以防止侵入式物理探测、攻击篡改芯片部分功能模块，从而获取芯片内部存储的关键数据和敏感信息。本文提出了一种基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层的方法，对现有静态或动态检测的主动屏蔽层的安全芯片，均可避开主动屏蔽层的检测实施攻击。该方法简易直接，可操作性极强，对芯片的安全设计和攻击具有重要的现实意义。使用该攻击方法，成功实现对智能IC卡进行侵入式攻击，探测到芯片RAM存储器输出数据信号，并重新激活了芯片测试模式。