如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

因LBIST向量的随机本性，采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向，从而导致低的故障覆盖范围。为解决该问题，我们借助抗随机故障分析(RRFA)方法，插入测试点。对用LBIST设计的故障检测能力的计算借助故障模拟的帮助完成，它给出了“测试质量”的估计。我们将在下面就此进行更详细的讨论，同时介绍可用来增加LBIST设计中故障检测能力的技术。