半导体激光器阵列发光面光束均匀度的特性测试* (2007年)

针对高功率的半导体激光器阵列，提出一种测试其发光端面均匀度特性（包括光强分布均匀度及光谱特性均匀度）的测试方法和测试系统。激光光束通过光纤传输后由光纤尾端的探测器或光谱仪接收用以获得测试点的光强或波长，利用电移台带动光纤扫描整个发光面得到发光面上每一点的光强或波长，从而获得其发光面光束均匀度特性。实验表明该方法和系统是可行的，可以作为评价半导体激光器阵列光束质量和性能的一种有效手段。