标题提到的“一种新的PCB测试技术”是指边界扫描测试（Boundary Scan Testing，BST），这是一种应对大规模集成电路（LSI）产品带来的PCB测试挑战的新方法。传统的在线测试技术由于芯片小型化和封装复杂性的增加，已经不再适应当前的需求。BST技术遵循IEEE 1149.1标准，提供了一种独立于电路板技术的测试解决方案，无需复杂的测试设备，并且能显著减少测试、调试和维护的时间，降低生产成本。
BST技术的核心组成部分包括测试存取通道（TAP）、控制器、指令寄存器（IR）和测试数据寄存器组（TDR）。TAP由一个5芯引脚连接器构成，其中TCK（Test Clock Input）负责同步和独立工作，TMS（Test Mode Select）控制TAP控制器的状态，TDI（Test Data Input）用于输入指令或测试数据，而TDO（Test Data Output）则用于输出数据。这些组件协同工作，实现对集成电路和PCB的高效测试。
在PCB的测试系统中，硬件包括通用PC、BST测试仪以及串行BST信号电缆。测试仪通过标准并口与PC连接，电缆则连接到PCB的TAP接口。每个模块（如A、B、C）的I/O管脚处都增加了BS寄存器，支持边界扫描测试。测试内容包括验证I/O管脚连接、IC芯片的完整性和内部功能，以及检测IC芯片间的互连开路和短路故障，以及总线的完整性。
测试系统的工作原理涉及预处理器和执行单元。预处理器根据PCB的网表和器件模型生成测试图形，执行单元则读取这些图形，执行测试并比较预期结果，如果发现故障，会生成故障报告并定位故障位置。通过这样的自动化流程，测试效率大大提高。
随着BST技术的发展，可编程集成电路的广泛应用将提升PCB测试的灵活性和适用性，同时降低成本。使用可编程逻辑集成电路，设计师可以创建通用PCB，通过软件编程改变芯片逻辑，以适应不同功能需求，这进一步简化了边界扫描测试，使得PCB测试变得更加便捷和经济。
