MOSFET功率开关器件的散热计算

随着电力电子功率器件向高功率密度方向的发展, 元件单位体积内的热量也相应增加。在大功率高频通信电源等设备中功率开关器件的电能损耗尤其突出, 这部分消耗功率会转变为热量使功率器件管芯发热、结温升高, 如果不能及时、有效地将此热量释放, 就会影响到器件的工作性能, 从而降低系统工作的可靠性, 甚至损坏器件。因此热设计已成为电力电子产品设计的关键一环。热设计的效果也直接关系到电力电子设备能否长期正常、稳定地工作。本文主要针对MOSFET 功率开关器件的散热进行了讨论。