低压驱动薄膜电致发光激发效率分布特性的实验研究

分析了利用探针层(probe-doped layer)实验方法来测量激发效率在电致发光器件的发光层中分布的机理,并利用这种实验方法测量了激发效率在低压驱动薄膜电致发光器件的发光层中的分布特性和器件的激发特性。实验结果表明在这种低压驱动电致发光器件的发光层中激发效率是不均匀的,其分布与器件被激发的程度有关。分析表明低压驱动电致发光的机理是由于发光层中电场强度的不均匀分布。