基于白光干涉彩色图像的微结构表面形貌测量

微结构的表面形貌会显著地影响微纳器件的使用性能及产品质量，是微纳测试领域的一个重要研究方面，利用白光干涉技术是测量物体表面形貌的一种常见方法。区别于常用的CCD黑白相机，使用CCD彩色相机采集白光干涉条纹的彩色图像，使获取的图像包含了R、G、B三个通道的信息。利用小波变换法分别求解出在不同扫描位置处R、G、B通道的相位信息，通过建立的评价函数，并结合最小二乘法可精确确定零光程差的位置，利用相对高度和零光程差位置的线性关系，进而得到物体的表面形貌。通过仿真以及实际测量由VLSI标准公司制造的标准台阶结构，验证了所提出方法的有效性。