存在阵列缺陷时的到达方向估计的统一框架和稀疏贝叶斯视角

自校准方法在减少到达方向（DOA）估计过程中阵列缺陷的负面影响中起着重要作用。 但是，大多数此类方法对本征结构技术的依赖性极大地降低了其对苛刻场景的适应性，例如低信噪比（SNR）和有限的快照。 本文旨在为阵列校准和DOA估计建立统一的框架和稀疏贝叶斯观点。 当考虑单一类型的阵列缺陷时，首先给出阵列输出的综合模型，并将互耦，增益/相位不确定性和传感器位置误差视为典型示例。 然后利用入射信号的空间稀疏性，提出一种贝叶斯方法来实现阵列标定和信源DOA估计。 根据大多数应用场景，假定阵列摄动幅度较小，并且将相互耦合的阵列的几何形状假定为均匀线性，而将具有传感器位置误差的阵列的几何形状假定为线性。 还获得了用于阵列校准和DOA估计精度的Cramer-Rao下界（CRLB）。 当多于一种类型的阵列摄动共存时，稀疏贝叶斯方法最终被扩展为处理DOA估计问题。