柱形铜凸点在热力耦合场中的原子迁移,何俐萍,邬博义,随着尺寸的进一步微型化和载荷严酷化,集成电路(integrated circuit, IC)封装焊点中的原子迁移失效问题越来越突出。由于材料热性能和�
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