一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法 (2010年)

通过分析透镜的成像规律，提出了一种利用光学系统的小孔对光的衍射作用，使像函数的特定部分进行了展宽，在不损失测量速度的情况下进一步提高交联聚乙烯（XLPE）电缆绝缘中杂质颗粒测量分辨力的新方法。在尺寸测量解算中利用三次样条函数对CCD像元输出进行插值，计算出阈值对应的位置，再由测量阈值计算出该值对应的像元位置。基于该原理工作的测量系统可获得分辨力为20μm，准确度为±5μm的实际测量结果，并且测量速度约每小时1 kg.该方法能够实现对高压交联聚乙烯（XLPE）电缆绝缘料和电缆超净生产中的杂质颗粒高速、高分辨