检验芯片的各项功能需要编写诊断软件，目的是确保器件的各项功能按要求工作，但是无论各项测试有多么详尽，它都无法找出大部分系统层次的问题。因此，要利用系统级强化测试(stress testing)来使多种功能以高强度和随机的方式共同执行，从而迫使这些设计问题浮出表面。本文将探讨用于检验半导体器件设计的系统强化测试方法。
强化测试
强化测试是指将产品置于比实际正常应用苛刻得多的条件下使用，其目的是通过各种方式对设备进行考验，迅速发现其设计缺陷。例如，对于一件机械产品，可能让它面对恶劣的环境条件，如高压、高温和震动。如果该产品能在这样的条件下成功经受一个月的考验，那么在正常使用条件下，它应
