SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计 (2012年)

在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时，嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型，ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后，针对某数字信息安全芯片设计，利用扫描设计原理，改进了其存储器周围逻辑的设计，为阴影逻辑提供了可测试路径，提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率。分析了设计的功耗、面积，确定了设计的有效性。