FPGA可编程逻辑模块的BIST测试方法

提出了一种针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法。测试向量生成器（TPG）采用伪穷举法来生成测试向量，输出响应分析器（ORA）采用多输入特征寄存器（Multi-Input Shift Register，MISR）捕获原始输出并进行压缩。在QuatusⅡ9.0中进行了测试实现与仿真。结果表明，该方法不仅能够检测出电路中存在的故障，而且大大提高了测试效率。