在探讨并行多通道激励信号产生模块前，需要了解FPGA（Field-Programmable Gate Array）的基础知识。FPGA是一种可编程逻辑设备，它由大量的可配置逻辑块、输入输出块以及连线资源组成，具有设计灵活、更新方便、集成度高、处理速度快等特点。基于FPGA技术的并行多通道激励信号产生模块在并行测试领域中的应用，能够提供多通道并行激励信号，从而从硬件层面降低软件任务分解与调度的难度。
并行测试技术的核心在于能够同时对多个被测对象（Unit Under Test, UUT）进行测试，大幅提升测试效率。并行测试的实现途径主要分为软件方式和硬件方式。软件方式依赖于测试任务的分解和调度，但这种方法在测试资源有限或调度算法不成熟时，可能会遇到竞争或死锁问题，导致实现困难。相比之下，硬件方式通过提供充足的测试资源来满足并行测试的需求，但在此过程中，若激励资源不足，同样会增加任务分解和调度难度，甚至造成竞争和死锁，影响并行测试的实现。因此，对于多通道并行激励信号的需求，成为了影响并行测试成功与否的关键因素。
并行测试技术属于下一代测试技术的范畴，它基于并行处理技术，宏观表现为在并行测试程序的控制下同时对多个被测对象进行测试。与传统的顺序测试技术相比，通过系统资源的优化利用，可以显著提高测试效能和质量，进而提高资源利用率，降低测试成本。
在设计并行多通道激励信号产生模块时，需要考虑的关键技术点包括：
1. FPGA芯片选择：例如文章中提到的Altera公司的EP2C35 FPGA，它作为整个系统的控制芯片，承担了信号产生模块的控制工作。EP2C35属于Cyclone II系列，支持多种接口标准，适用于复杂的逻辑设计。
2. 多通道信号的生成与控制：模块内部应包含多个信号生成与控制单元，以支持多通道并行操作。这要求FPGA内部具有足够的逻辑资源和I/O端口。
3. 高速数据处理能力：为了应对多通道并行激励信号产生的需求，FPGA需要具备高速的数据处理能力，以确保每个通道的信号都能及时准确地被生成和传输。
4. 信号同步与定时控制：为了保证多通道信号之间的同步性，FPGA的设计中需要有精确的定时控制单元，以减少或消除通道间的延时差异。
5. 抗干扰技术：由于信号产生模块往往处于复杂的电磁环境中，因此必须有有效的抗干扰措施，保障信号的准确性和可靠性。
6. 可扩展性：模块设计时应考虑到未来可能的升级和扩展，使得在未来需要增加通道数量时，能够灵活地进行调整。
除了上述技术点，该模块设计也涉及到具体的实现技术，例如算法实现、编程方法、逻辑优化等。这些内容虽然在提供的部分内容中没有详细说明，但它们都是实现多通道并行激励信号产生模块的关键技术组成。
综合上述内容，可以看出FPGA在并行多通道激励信号产生模块中的重要性。该模块不仅能够提升测试效率，降低测试成本，还能够为武器装备测试提供快速维护保障能力，对于测试技术的发展具有重要的推动作用。
