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【*】程序简介
-工程名称:W25Q64基本读写全程
-实验平台: 秉火STM32 F103-指南者 开发板
-MDK版本:5.16
-ST固件库版本:3.5
【 !】功能简介:
读写板载的SPI FLASH芯片。
学习目的:学习STM32的SPI驱动。
【 !!】注意事项:
FLASH芯片出厂前已有烧录数据,具体见下文FLASH使用情况说明。
【 !】实验操作:
电脑端使用串口调试助手,选择电脑与STM32相连的COM口,设置为115200-N-8-1,
复位开发板,即可接收STM32串口发送给电脑的调试信息。
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【 !】外部Flash使用情况说明(W25Q64)
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|序号 |文件名/工程 |功能 |起始地址 |长度 |
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|1 |外部flash读写例程 |预留给裸机Flash测试 |0 |1024 (BYTE) |
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|2 |裸机触摸屏例程 |裸机触摸校准参数 |1024 |10 (BYTE) |
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|3 |裸机中文显示例程 |裸机中文字库(HZLIB.bin) |4096 |53*4096 (212KB) |
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|4 |app.c |XBF字库文件(emWin使用,songti.xbf) |60*4096 |317*4096 (1.23MB) |
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|5 |外部flash读写例程 |文件系统中文支持字库(emWin使用,UNIGBK.BIN) |465*4096 |43*4096 (172KB) |
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|6 |Touch_CalibrationApp.c |电阻屏触摸校准参数(emWin使用) |510*4096 |34 (BYTE) |
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|7 |外部flash读写例程 |文件系统中文支持字库(emWin使用,UNIGBK.BIN) |512*4096 |1536*4096 (6MB) |
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*FLASH芯片的第一个扇区(0-4096字节)是专门预留给本实验及裸机触摸做测试的,
若用户修改本实验,写入数据到其它扇区,会导致FLASH芯片其它数据毁坏,
做其它用到这些数据的实验时需要重新给FLASH写入这些数据。
可使用配套例程中的“刷外部FLASH程序”给FLASH恢复出厂数据。
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【*】 引脚分配
FLASH(W25Q64):
FLASH芯片的SPI接口与STM32的SPI3相连。
SCK <--->PA5
MISO<--->PA6
MOSI<--->PA7
CS <--->PA4
串口(TTL-USB TO USART):
CH340的收发引脚与STM32的发收引脚相连。
RX<--->PA9
TX<--->PA10
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【*】 版本
-程序版本:1.0
-发布日期:2013-x
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【*】 联系我们
-秉火论坛 :http://www.firebbs.cn
-淘宝店铺 :http://firestm32.taobao.com
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