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半导体工艺流程简介.ppt
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半导体工艺流程简介.ppt
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N
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-
-
-
-
-
-
+
+
+
+
+
半
导体元件制造过程可分为
•
前段(
Front End
)制程
晶圆处理制程(
Wafer Fabrication
;简称
Wafer Fab
)、
晶圆针测制程(
Wafer Probe
);
•
後段(
Back End
)
构装(
Packaging
)、
测试制程(
Initial Test and Final Test
)
一、晶圆处理制程
•
晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与
电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上
述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程
,以微处理器(
Microprocessor
)为例,其所需处
理步骤可达
数百道
,而其所需加工机台先进且昂贵
,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、
湿度与
含尘(
Particle
)均需控制的无尘室(
Clean
-Room
),虽然详细的处理程序是随著产品种类与
所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶
圆先经过适
当的清洗(
Cleaning
)之後,接著进行
氧化(
Oxidation
)及沈积,最後进行微影、蚀刻及
离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与
制作。
二、晶圆针测制程
•
经过
Wafer Fab
之制程後,晶圆上即形成
一格格的小格
,我们称之为晶方或是晶粒
(
Die
),在一般情形下,同一片晶圆上
皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一
片晶圆
上制作不同规格的产品;这些晶圆
必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经
过针测(
Probe
)仪器以测试其电气特性
,
而不合格的的晶粒将会被标上记号(
Ink Dot
),此程序即
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程(
Wafer Probe
)。然後晶圆将依晶粒
为单位分割成一粒粒独立的晶粒
三、
IC
构装制程
•
IC
構裝製程(
Packaging
):利用塑膠
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•
目的:是為了製造出所生產的電路的保
護層,避免電路受到機械性刮傷或是高
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