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第五章集成电路测试与可测试性设计
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2022-12-21
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第五章
1
集成电路测试与可测试性设计
一、测试与可测试性设计的基本概念 二、
数字系统集成电路中的故障模型 三、测试
生成
四、故障模拟
五、可测试性设计(Design for Test DFT)
2
本章课程安排
一、测试与可测试性设计的基本概念 二、
数字系统集成电路中的故障模型 三、测试
生成
四、故障模拟
五、可测试性设计(Design for Test DFT)
3
本章课程安排
本节内容安排
1. 集成电路测试概述
2. 目前业界集成电路测试状况简述
3. 集成电路可测性设计概述
4
一、测试与可测试性设计的基本概念
1. 集成电路测试概述
集成电路测试是针对集成电路芯片成品而言。
1.1
一、测试与可测试性设计的基本概念
a. 所谓测试,就是在被测
电路的输入引脚施加相
应的激励信号,然后检
测输出引脚的响应,并
将检测到的输出引脚的
响应与期望的响应进行
比较,以判断电路是否
存在故障的过程。
5
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资源评论
- m0_670610502023-05-21资源是宝藏资源,实用也是真的实用,感谢大佬分享~
- bobstart12023-05-22果断支持这个资源,资源解决了当前遇到的问题,给了新的灵感,感谢分享~
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