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JTAG技术文档
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JTAG技术文档,可以结合ARM
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JTAG技术入门文档资料
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JTAG(Joint Test Action Group,联合测试工作组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
密码SoC芯片JTAG安全防护技术研究-综合文档
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密码SoC芯片JTAG安全防护技术研究
JTAG接口的学习PDF
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JTAG下载口的各个端点作用,技术说明文档,适合刚开始学习单片机的人使用。
msp_JTAG.pdf
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msp430系列文档,之JTAG的技术文档 标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 相关JTAG引脚的定义为:TCK为测试时钟输入;TDI为测试数据输入,数据通过TDI引脚输入JTAG接口;TDO为测试数据输出,数据通过TDO引脚从JTAG接口输出;TMS为测试模式选择,TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式;TRST为测试
JTAG调试器PCB设计1.pptx
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使用JTAG的一些心得
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本人把这一段使用JTAG的一些心得写出来,希望能够对初学者有所帮助。
JTAG技术在PCB测试中的应用.pdf
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JTAG技术在PCB测试中的应用.pdf
基于高速JTAG的嵌入式调试技术.pdf
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基于高速JTAG的嵌入式调试技术JT A G 调试技术是 CP U 的调试手段之一。 针对传统调试技术的效率低,本文介绍一种新的高效的JT A G 调 试 技术 ,采用 中断的方 式 ,通过 中断服务程序配合 和直接对存储 器的读写控制 的方法实 现调 试。 本 文详细介绍了基于 高速JT A G 调试技术的单步、断点、读写存储器、特殊功能寄存器的实现原理,并给出了逻辑实现框图和实验结果。 实 验
H-JTAG技术资料
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本资料详细介绍了H-JTAG的各种参数的设置方法及原理,对于从事嵌入式开发的技术人员有一定的参考价值。
JTAG.doc(英文介绍文档)
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What is JTAG? 1、History of JTAG;2、How JTAG Works;3、JTAG Test Overview;4、JTAG Instructions;5、JTAG Interface-------
H-JTAG使用文档 详细
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H-JTAG 使用文档 详细 照着步子来可以练习烧写我们的NOrflash,如果是s3c2410,请一定要记住拔下我们的跳线帽!不然,是烧不成功的
JTAG边界扫描测试技术原理.ppt
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详细介绍了JTAG的目的,好处,以及JTAG规范的建立发展过程
POLAR_AVR_JTAG_ICE技术手册.pdf
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POLAR_AVR_JTAG_ICE技术手册.pdfPOLAR_AVR_JTAG_ICE技术手册.pdf
JTAG仿真接口电路设计JTAG仿真接口电路设计-综合文档
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JTAG仿真接口电路设计.pdf
模拟JTAG加载CPLD的源码及说明文档。
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本文以Lattice CPLD为例子,详细介绍了MCU如何模拟JTAG在线加载CPLD。资源包括说明文档和C代码。
JTAG&MPSD仿真器技术参考
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SEED-XDS560仿真器全面的技术资料,提供最全面的技术参考。
基于JTAG的互连测试技术
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一、引言随着微电子技术进入超大规模集成电路(VLSI)时代,VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用,使得电路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失,电路和系统的可测试性急剧下降,测试费用在电路和系统总费用中所占的比例不断上升,常规测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实:要对一
JTAG边界扫描技术的研究
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JTAG边界扫描技术的研究:JTAG是一种所谓的边界扫描技术,即IEEE1149.1。本文将对JTAG的工作原理及打印口工作原理作简要介绍。
嵌入式系统/ARM技术中的JTAG的软件流程
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TAP(测试访问端口)控制器是一个16状态的有限状态机,为JTAG提供控制逻辑,控制进入JTAG结构中各种寄存器内数据的扫描与操作。状态转移图如图所示,在TCK同步时钟上升沿的TMS引脚的逻辑电压来决定状态转移的过程。 对于由TDI引脚输入到器件的扫描信号有2个状态变化路程:用于指令移入至指令寄存器,或用于数据移入至相应的数据寄存器(该数据寄存器由当前指令确定)。 状态图中的每个状态都
PCB技术中的JTAG测试
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现在,边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中,使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG(联合测试行动组)测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内,并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是:·PC成为完整的测试系统;·成本低,开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加,测试和调试的物理接入正在减少。几年
基于JTAG的边界扫描技术
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pcb电路板的测试技术现在已经要求越来越高,针对jtag口的边界扫描技术是一种新技术
ARM JTAG技术 ARM JTAG技术 ARM JTAG技术
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ARM JTAG技术 ARM JTAG技术 ARM JTAG技术 ARM JTAG技术 ARM JTAG技术 ARM JTAG技术
基于JTAG的星型扫描技术的研究
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传统的串型扫描拓扑结构已经不能满足系统发展所要求的测试任务,随着边界扫描技术的飞速发展,IEEE 1149.7标准提出了支持星型拓扑扫描功能的TAP.7接口规范。重点对TAP.7接口的星型扫描技术进行了深入的研究,详细介绍了基于JTAG的具有星型扫描功能接口的设计原理,重点对此TAP.7接口进行了设计,并对共享DTS连接的拓扑技术分支选择和星型扫描功能进行了仿真验证。
【技术分享】AS模式与JTAG模式设定
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本次设计有AS和JTAG模式下载。
串口助手工具合集.zip
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收集整理常用的一些串口工具,比如串口波形显示,modbus协议调试,串口多条发送等各种功能软件。
OLED显示温度和时间-STM32F103C8T6(完整程序工程+原理图+相关资料).zip
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OLED 屏幕显示时间,温度。时间可以校准,屏幕通过取模,可以显示汉字。
pn532模拟资料包.zip
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使用pn532实现。手环模拟加密门禁卡的一些必需软件,包括M1T-v1.6.6、M1T-v1.6.6、驱动等。
Vivado license 永久
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2018.3测试可用,各种IP超级齐全,测试了srio可用,Jesd等IP均显示正常,理论上所有版本应该都支持,大家下来看看。
STM32全系列 Keil MDK pack包(当前最新离线包)
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STM32全系列 Keil MDK pack离线包 注:由于上传大小限制,除了F0和F1的包,其他的提供链接通过百度云下载。 包括以下包,当前最新版本(20200115) Keil.STM32F0xx_DFP.2.0.0.pack Keil.STM32F1xx_DFP.2.3.0.pack Keil.STM32F2xx_DFP.2.9.0.pack Keil.STM32F3xx_DFP
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