JTAG(JointTestActionGroup,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议,主要
用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试,JTAG技术是一种嵌入式调试技术,它在芯
片内部封装了专门的测试电路TAP(TestAccessPort,测试访问口),通过专用的
JTAG测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议,如ARM、DSP、FPGA器件等。标
准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO,分别为测试模式选择、测
试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各
个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP(In-SystemProgrammable在系
统编程)功能,如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口,可对芯片内部的所有部件进行访问,因而是开发调试嵌入式系统的一种
简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准,即14针接口和20针接口,其
定义分别如下所示。
14针JTAG接口定义:
14针JTAG接口定义引脚名称描述
1、13VCC接电源
2、4、6、8、10、14GND接地
3nTRST测试系统复位信号
5TDI测试数据串行输入
7TMS测试模式选择
9TCK测试时钟