ASIC测试

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ASIC测试

: ASIC可测试性设计技术.pdf ASIC 可测试性设计技术.pdf 本文档讲述了ASIC 可测试性设计技术的基本概念、方法和应用。可测试性设计技术是指在设计阶段考虑电路的测试要求，以降低测试生成的复杂性和成本。该技术涉及到可控制性和可观察性两个...
评级：0 浏览量：60 收藏量：1 资源大小：1.47MB 上传时间：2023-03-28

: 专用集成电路设计实践西电ASIC测试技术概述PPT学习教案.pptx 专用集成电路设计实践西电ASIC测试技术概述PPT学习教案.pptx
评级：5 浏览量：42 收藏量：0 资源大小：729KB 上传时间：2021-10-01

: 一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法随着VLSI的发展，可测性将成为芯片设计的主要依据，本文论述了ASIC可测性的三种设计方法，并对三种方法做出了比较，最后给出了一个使用的可测性设计环境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT)
评级：0 浏览量：83 收藏量：1 资源大小：424KB 上传时间：2021-07-07

: eetop.cn_ASIC可测试性设计技术.rar_asic_hillfka 生快生快到凌晨八块v京东快递快递是比较阿卡不行就先开始吧
评级：0 浏览量：47 收藏量：0 资源大小：785KB 上传时间：2022-09-23

: ASIC可测试性设计技术详细介绍了专用集成电路（ASIC）中的可测试性设计技术
评级：0 浏览量：319 收藏量：1 资源大小：930KB 上传时间：2017-12-13

: 芯片测试tester-DX 芯片测试tester-DX是一款cost-optimized的测试系统，旨在满足当前和未来的测试需求，为各种ASSP/ASIC和微控制器在无线和移动应用程序和消费类IC提供支持。该系统基于LTX-Credence的低成本、高吞吐量生产测试解决方案...
评级：0 浏览量：26 收藏量：0 资源大小：563KB 上传时间：2023-06-23

: 典型ASIC设计详细流程典型ASIC设计具有下列相当复杂的流程：　1）、结构及电气规定。　2）、RTL级代码设计和仿真测试平台文件准备。　3）、为具有存储单元的模块插入BIST（Design For test 设计）。　4）、为了验证设计功能，...
评级：0 浏览量：511 收藏量：1 资源大小：37KB 上传时间：2021-01-20

: soc asic设计验证和测试方法学.7z 集成电路SoC设计介绍，介绍不同SoC设计模型，和设计分层概念；介绍SoC设计验证相关知识，同时，介绍了SoC测试需要掌握的知识和相关工具.
评级：0 浏览量：144 收藏量：0 资源大小：8.36MB 上传时间：2020-02-18

: 如何解决ISSP结构化ASIC 该技术适合于高速ASIC设计，这是因为ISSP可以解决设计人员的很多问题：ISSP器件为多达七层金属化设计，其中最上两层可以由客户定制以符合不同的设计要求，下面几层由IP、可测试性设计（DFT）模块以及为减少深亚微米...
评级：0 浏览量：120 收藏量：0 资源大小：116KB 上传时间：2020-10-23

: 典型ASIC设计主要流程 2）、RTL级代码设计和仿真测试平台文件准备。 3）、为具有存储单元的模块插入BIST(Design For test 设计)。 4）、为了验证设计功能,进行完全设计的动态仿真。 5）、设计环境设置。包括使用的设计库和其他一些环境...
评级：0 浏览量：147 收藏量：0 资源大小：38KB 上传时间：2021-01-19

: ASIC及集成系统设计方法 *系统设计过程和设计思想 *ASIC设计及CAD技术系统设计过程*设计前期：将用户要求转换为用于设计的技术规范。*设计过程：软/硬件划分、电路设计与软件开发、系统仿真、可靠性分析、制造和生产、系统测试。*设计后期...
评级：0 浏览量：127 收藏量：0 资源大小：66KB 上传时间：2020-12-09

: ASIC 设计流程 (ADF) + ADF 产品 + 电脑辅助测试 (CAT) 系统 ADF 提供了完整且容易使用的 SoC 深亚微米设计环境，以及与客户合作中使用的 CMOS18 与 CMOS12 工具组，而且还拥有技术与客户工程团队 (TCEG) 的支持。它能够使用领先业界的...
评级：0 浏览量：178 收藏量：0 资源大小：57KB 上传时间：2020-12-09

: soc asic设计验证和测试方法学.rar 本书阐述了设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片（ASIC）的设计。本书适合IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。本书的具体内容有：...
评级：0 浏览量：210 收藏量：1 资源大小：8.25MB 上传时间：2019-05-25

: 基于SIXS-ASIC 的半导体传感器信号读出电子学系统的研制介绍了一种用于半导体传感器信号读出的专用集成电路 (ASIC, Application -Specific Integrated Circuit) 的基本结构和工作原理，分析其测试需求，设计并实现了基于该ASIC 芯片的探测器读出电子学系统。描述了测试...
评级：0 浏览量：57 收藏量：0 资源大小：1.48MB 上传时间：2021-04-16

: 一种用于ASIC芯片测试的多接口CPU模型的VHDL设计.pdf "一种用于ASIC芯片测试的多接口CPU模型的VHDL设计" 本文主要介绍了一种用于ASIC芯片测试的多接口CPU模型的VHDL设计。该设计旨在解决ASIC芯片测试中的问题，即降低测试的复杂性和成本。在现有的CPU模型中，缺乏一个...
评级：0 浏览量：43 收藏量：1 资源大小：173KB 上传时间：2021-09-24

: EDA/PLD中的ASIC设计基础这些步骤包括怎样去写设计说明，由上到下的设计，仿真，测试向量生成，还有好的程序练习。这份报告是针对于那些从事ASIC设计或正准备设计的工程师的。那些从未设计过ASIC的工程师会发现这门课程是非常有益的，那些...
评级：0 浏览量：104 收藏量：0 资源大小：99KB 上传时间：2020-12-09

: 如何着手进行LTE测试？使用任何新技术时，生产工程师面临的挑战就是要测试哪些内容以及为什么要...生产车间不是检验数百万固件生产线或是检验与数百万门级数字信号处理（DSP）/专用集成电路（ASIC）设计相关的硬件功能的地方。　生产测试
评级：0 浏览量：112 收藏量：0 资源大小：1.72MB 上传时间：2021-01-20

: HDL语言与ASIC原理全套教学课件.pdf 5.ASIC设计流程：ASIC设计流程包括设计、验证、测试和制造等步骤。设计者需要使用HDL语言描述数字电路的结构和行为，然后使用EDA工具对设计进行验证和仿真，最后进行测试和制造。 6.数字电路设计的基本概念：数字...
评级：0 浏览量：22 收藏量：0 资源大小：8.05MB 上传时间：2022-05-16

: ASIC课程实验实验报告 NRZ/HDB3码制变换的功能与时序验证用Verilog HDL对HDB3译码电路进行描述，并写出测试文件
评级：3 浏览量：132 收藏量：0 资源大小：24KB 上传时间：2011-06-14

: I2C测试说明自己用FPGA实现的I2C模块，符合标准的i2c协议
评级：0 浏览量：220 收藏量：0 资源大小：387KB 上传时间：2016-03-15

: 边界扫描SRAM簇板级互连测试研究 1 引言边界扫描技术已成为了VLSI和ASIC测试的重要方法，但是，尽管边界扫描器件越来越多，非边界扫描器件仍然大量存在。在复杂电路设计中，VLSI和ASIC虽然能够完成电路的许多功能，但并不是所有的逻辑功能都可以...
评级：0 浏览量：86 收藏量：0 资源大小：220KB 上传时间：2020-12-08

: 论文研究-DTMB标准数字电视ASIC设计测试平台的研究 .pdf DTMB标准数字电视ASIC设计测试平台的研究，周鹏，曹凡，本文介绍了DTMB标准数字电视ASIC设计测试硬件平台的搭建以及控制界面程序的设计。重点讲述了PC如何控制多台测试仪器，以及它们之间��
评级：0 浏览量：97 收藏量：0 资源大小：191KB 上传时间：2019-08-16

: 模块电源的噪声测试技巧其特点是可为专用集成电路（ASIC）、数字信号处理器（DSP）、微处理器、存储器、现场可编程门阵列（FPGA）及其他数字或模拟负载提供供电。模块电源的噪声测试主要分为三点，如下： 1、测试条件：模块电源
评级：0 浏览量：104 收藏量：0 资源大小：67KB 上传时间：2021-01-13

: EDA/PLD中的典型ASIC设计主要流程 2）、RTL级代码设计和仿真测试平台文件准备。 3）、为具有存储单元的模块插入BIST(Design For test 设计)。 4）、为了验证设计功能,进行完全设计的动态仿真。 5）、设计环境设置。包括使用的设计库和其他一些环境...
评级：0 浏览量：139 收藏量：0 资源大小：39KB 上传时间：2020-11-19

: 一种新的PCB测试技术现在一种新的测试技术——边界扫描测试技术已逐步得到发展,大多数的ASIC电路和许多中等规模的设备已开始利用边界扫描测试技术进行设计。BST技术是按照IEEE1149.1标准,提供了一套完整的测试方案。在实际的测试中,它不...
评级：0 浏览量：62 收藏量：0 资源大小：64KB 上传时间：2021-01-19

: 基础电子中的典型ASIC设计详细流程典型ASIC设计具有下列相当复杂的流程：　1）、结构及电气规定。　2）、RTL级代码设计和仿真测试平台文件准备。　3）、为具有存储单元的模块插入BIST（Design For test 设计）。　4）、为了验证设计功能，...
评级：0 浏览量：95 收藏量：0 资源大小：38KB 上传时间：2020-10-19

: ASIC芯片设计生产流程.ppt ASIC项目的主要步骤包括：预研阶段；顶层设计阶段；模块级设计阶段；模块实现阶段；子系统仿真阶段；系统仿真，综合和版图设计前门级仿真阶段；后端版面设计阶段；测试向量准备阶段；后端仿真阶段...
评级：0 浏览量：257 收藏量：2 资源大小：2.46MB 上传时间：2019-09-15

: 典型ASIC设计主要流程 word文档典型ASIC设计主要流程 1)、结构及电气规定。 2）、RTL级代码设计和仿真测试平台文件准备。　3）、为具有存储单元的模块插入BIST(Design For test 设计)。　4）、为了验证设计功能,进行完全设计的动态仿真。　...
评级：0 浏览量：86 收藏量：0 资源大小：21KB 上传时间：2009-08-12

: 演示ASIC IP性能与质量需要有FPGA中立的设计流程设计新系统级芯片（SoC）产品的公司都面临成本和效率压力，以及实现更高投资回报的持续市场压力，从而导致了工程团队缩编、设计...将真正可靠且胜任的IP与有缺陷、未经过充分测试且缺乏真实性能的IP区分开来的诀窍，是
评级：0 浏览量：74 收藏量：0 资源大小：931KB 上传时间：2021-01-19

: 简述FPGA系统的仿真和测试它是作为专用集成电路（ASIC）领域中的一种半定制电路而出现的，既解决了定制电路的不足，又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点。　在FPGA 设计中，仿真一般分为功能仿真（前仿真）和时序仿真（后仿真）。功能...
评级：0 浏览量：441 收藏量：0 资源大小：85KB 上传时间：2020-10-22

: 高级ASIC芯片综合课件synopsys+dc中文详细教程.ppt 2. 逻辑综合（Logic Synthesis）：决定设计电路逻辑门的相互连接，寻求时序和与面积的平衡、寻求功耗与时序的平衡、增强电路的测试性。 3. STA（Static Timing Analysis）：对设计电路进行时序分析，以确保电路的...
评级：5 浏览量：230 收藏量：0 资源大小：2.07MB 上传时间：2021-11-29

: eetop.cn_1687-2014.pdf ijtag 1687协议，详细介绍了ijtag的协议，时序。IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device。
评级：5 浏览量：1147 收藏量：1 资源大小：8.93MB 上传时间：2020-02-20

: 基于ASIC+FPGA的IPv6路由器PoS接口设计本文根据IPv6路由器155Mbit/s PoS接口的需求,提出并实现了一种基于ASIC+FPGA的设计方案。目前该方案已经在国家数字交换系统工程技术研究中心开发的IPv6路由器中得到实现,测试后的系统性能稳定,达到了预期的设计目标...
评级：0 浏览量：72 收藏量：0 资源大小：368KB 上传时间：2020-08-07

: 浅谈模块电源的噪声测试方法其特点是可为专用集成电路（ASIC）、数字信号处理器（DSP）、微处理器、存储器、现场可编程门阵列（FPGA）及其他数字或模拟负载提供供电。模块电源的噪音测试主要分为三点，如下：　1、测试条件：模块电
评级：0 浏览量：73 收藏量：0 资源大小：69KB 上传时间：2021-01-20

: 基于FPGA系统易测试性的研究另一方面，当前几乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的总线，除了提供高速并行总线接口外，正迅速向高速串行接口的方向发展，FPGA也不例外。每一条物理链路的速度从600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的测试和验证更成为...
评级：0 浏览量：64 收藏量：0 资源大小：167KB 上传时间：2021-01-19

: 基于DSP+FPGA+ASIC的实时图像处理架构设计本文使用高性能的DSP（TMS320C6414），可编程逻辑器件FPGA （Stratix系列的EP1S10）和专用ASIC多级滤波芯片，提出了DSP + FPGA + ASIC的图像处理平台架构，设计了处理能力强、接口可靠稳定的红外图像处理系统，并在...
评级：0 浏览量：126 收藏量：1 资源大小：141KB 上传时间：2020-10-18

: 基础电子中的边界扫描测试技术　扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构(即器件级BIST)的基础结构，这可在EPGA、ASIC和SoC中实现。　另外，它提供单点接入能力来支持环境重点测试和精确的引脚级诊断。　拓扑结构　选择边界扫描系统...
评级：0 浏览量：124 收藏量：0 资源大小：158KB 上传时间：2020-11-22

: 基于BST技术的印制电路板的测试现在一种新的测试技术——边界扫描测试技术已逐步得到发展,大多数的ASIC电路和许多中等规模的设备已开始利用边界扫描测试技术进行设计。BST技术是按照IEEE1149.1标准,提供了一套完整的测试方案。在实际的测试中,它不...
评级：0 浏览量：176 收藏量：0 资源大小：65KB 上传时间：2020-11-26

: ASIC集成电路的设计流程PPT教学课件.pptx 2. 半定制：在这个类型中，标准单元是已设计好的具有一定逻辑功能的单元电路，这些单元电路已经完成了紧凑的布局布线，经过严格测试，能保证逻辑功能和严格时序。设计者可以从标准单元库中选择合适的单元电路。 3. ...
评级：0 浏览量：38 收藏量：0 资源大小：1.15MB 上传时间：2021-10-06

: 基于FPGA的VRLA蓄电池测试系统设计现场可编程门阵列FPGA(Field Programmable GateArray)属于ASIC产品，通过软件编程对目标器件的结构和工作方式进行重构，能随时对设计进行调整，具有集成度高、结构灵活、开发周期短、快速可靠性高等特点，数字设采用...
评级：0 浏览量：65 收藏量：0 资源大小：139KB 上传时间：2021-01-19

: 电源技术中的模块电源的噪声测试技巧其特点是可为专用集成电路（ASIC）、数字信号处理器（DSP）、微处理器、存储器、现场可编程门阵列（FPGA）及其他数字或模拟负载提供供电。模块电源的噪声测试主要分为三点，如下： 1、测试条件：模块电源
评级：0 浏览量：109 收藏量：0 资源大小：69KB 上传时间：2020-10-16

: FPGA 设计的验证技术及应用原则随着FPGA 器件体积和复杂性的不断增加，设计工程师越来越...些项目来说，在要求采用高性能64 位服务器的情况下，其测试时间却要几天甚至几周。这样，这种方法首先消弭了采用FPGA 带来的上市时间和实施成本方面的好处。
评级：0 浏览量：120 收藏量：0 资源大小：272KB 上传时间：2018-12-19

: 通信与网络中的茂纶推出Altera StratixII系列ASIC Prototyping Board 茂纶公司(GFEC)推出新款ASIC ...由于目前高容量的FPGA在加工过程及测试都需花较多的时间来完成，如何快速有效的完成一个ASIC平台，提供ASIC硬软件设计人员在此平台无误的完成设计验证及纠错，此款ASIC Prototypin
评级：0 浏览量：88 收藏量：0 资源大小：44KB 上传时间：2020-12-03

: vunit:VUnit是VHDLSystemVerilog的单元测试框架 VUnit是VHDL / SystemVerilog的单元测试框架。它具有实现HDL代码的连续和自动化测试所需的功能。 VUnit不会替代传统测试方法，而是通过尽早支持测试（通常是通过自动化方法）来补充传统测试方法。阅读更多。欢迎...
评级：0 浏览量：272 收藏量：0 资源大小：6.4MB 上传时间：2021-04-30

: 大规模ASIC的线长驱动合法化算法总体布局完成之后的核心任务就是单元位置的合法化，即在将所有的单元安放到布局区并与...在ISPD'11和DAC'12竞赛示例上进行的测试结果表明了算法在线长保护及优化方面的效果。大规模ASIC多种特征电路的布局合法化问题。
评级：0 浏览量：29 收藏量：0 资源大小：767KB 上传时间：2021-03-17

: 基础电子中的如何着手进行LTE测试？使用任何新技术时，生产工程师面临的最大挑战就是要测试哪些内容以及为什么要...生产车间不是检验数百万固件生产线或是检验与数百万门级数字信号处理（DSP）/专用集成电路（ASIC）设计相关的硬件功能的地方。　生产
评级：0 浏览量：57 收藏量：0 资源大小：730KB 上传时间：2020-10-21

: 了解系统级的能量管理技术与测试这些技术既能用于处理单元（如CPU、FPGA和ASIC），也可以用于这些单元之间传输数据的通信总线。　功耗　为一个处理单元通电时，就出现了静态功耗，而动态功耗则发生在计算期间。总功耗可以表示为静态功耗与动态...
评级：0 浏览量：46 收藏量：0 资源大小：248KB 上传时间：2020-11-04

: PCB技术中的一种新的PCB测试技术现在一种新的测试技术——边界扫描测试技术已逐步得到发展,大多数的ASIC电路和许多中等规模的设备已开始利用边界扫描测试技术进行设计。BST技术是按照IEEE1149.1标准,提供了一套完整的测试方案。在实际的测试中,它不...
评级：0 浏览量：57 收藏量：0 资源大小：66KB 上传时间：2020-11-11

: Mellanox SX1036交换机测试报告.pdf 该报告对Mellanox SwitchX-2 ASIC的40Gb以太网性能和特性进行了评估，并与博通StrataXGS Trident II ASIC的性能进行对比测试。标签“解决方案”表明该文件关注的是Mellanox SX1036交换机作为解决方案的性能和特性...
评级：0 浏览量：113 收藏量：0 资源大小：643KB 上传时间：2021-10-12

: 多功能的多协议工业以太网监测设计参考-电路方案某些成熟的实时以太网协议（如 EtherCAT、EtherNet/IP、PROFINET、Sercos III 和 PowerLink）要求对 FPGA 或 ASIC 提供专门的 MAC 硬件支持。工业通信子系统内的可编程实时单元 (PRU-ICSS) 作为 Sitara 处理器系列的...
评级：0 浏览量：63 收藏量：0 资源大小：717KB 上传时间：2021-04-21

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