华为射频可测试性设计规范

### 华为射频可测试性设计规范解析 #### 一、射频单板ICTDFT设计 **1.1 射频单板ICT测试点设计规则** 在射频单板的设计过程中，ICT（In-Circuit Test，在电路测试）测试点的设计至关重要。它直接影响到后期的生产测试效率和质量控制。根据华为的内部技术规范DKBA4247-2005，射频单板ICT测试点的设计需遵循一定的规则。 - **测试点布局原则**：测试点应均匀分布在射频单板上，确保覆盖所有关键部件和信号路径。 - **接触可靠性**：测试点的接触面积要足够大，以保证测试探针的良好接触，避免因接触不良导致的误判。 - **保护措施**：对敏感电路附近的测试点，应增加保护措施，如使用保护电路或隔离措施，防止测试时对敏感电路造成损害。 - **易于访问**：测试点的位置应当便于测试设备接入，尽量避免遮挡或其他障碍物的影响。 - **标识清晰**：每个测试点都需要有明确的标识，以便于快速定位。 **图1 某公司功放模块单板微带线上ICT测试点设置方法** 此图展示了一种典型的功放模块单板上的ICT测试点设置方法，通过在微带线的关键位置设置测试点，可以有效监测信号传输情况。 **图2 某公司频率综合源RF通路微带线分支ICT测试点设置方法** 该图示例了频率综合源RF通路微带线分支的ICT测试点设置方式，确保了频率综合器的性能测试准确性。 **1.2 射频器件ICTDFT设计规则** 针对不同的射频器件，ICTDFT设计规则也有所不同： **1.2.1 射频放大器和场效应管放大器** - **测试点位置**：应在放大器的输入输出端口附近设置测试点，以监测信号的放大效果。 - **图6 放大器前直接是耦合电容ICT设置方法** 此图示例了当放大器前直接连接耦合电容时的ICT测试点设置方法。 **1.2.2 MMIC射频开关** - **图7 射频开关电源端ICT测试点设置方法** 该图展示了射频开关电源端的ICT测试点设置方法。 - **图8 射频开关控制端ICT测试点设置方法** 图8则展示了射频开关控制端的ICT测试点设置方式。 **1.2.3 MMIC射频衰减器** - **图9 射频衰减器电源端ICT测试点设置方法** 通过设置在电源端的测试点，可以监测射频衰减器的工作状态。 **1.2.4 射频VCO** - **图10 射频衰减器电源端ICT测试点设置方法** 对于射频压控振荡器(VCO)，也需要在其电源端设置测试点，以监测其工作电压的稳定性。 **1.2.5 射频锁相环** - **图11 射频衰减器控制端和射频输入输出端ICT测试点设置方法** 图11示例了锁相环控制端和射频输入输出端的ICT测试点设置方式。 **1.2.6 集成频率综合器** - **图12 功放电流检测电路部分ICT测试点设计** 该图展示了频率综合器部分的ICT测试点设计，特别关注于功放电流检测电路。 **1.2.7 滤波器** - 对于滤波器，应在其输入输出端设置测试点，监测信号的通过特性。 **1.2.8 射频调制器** - 射频调制器同样需要在其输入输出端设置测试点。 **1.2.9 隔离器** - 隔离器两端也应设置测试点，以监测信号的隔离效果。 **1.2.10 环行器** - 环行器的各端口应设置测试点，以监控信号的方向性和损耗。 **1.2.11 阻抗变换器** - 在阻抗变换器的输入输出端设置测试点，用于监测信号的匹配状况。 **1.2.12 射频混频器** - 混频器的各个输入输出端口均需设置测试点，确保信号转换过程的准确性。 **1.2.13 功分器** - 功分器的各个输出端口应设置测试点，用以监控信号的分配情况。 **1.2.14 耦合器** - 耦合器的各个端口均需设置测试点，用于监测信号的耦合效果。 **1.2.15 功放过流告警电路测试** - 功放的过流告警电路也应设置相应的测试点，确保其能够正常工作。 #### 二、射频单板、模块FTDFT设计 **2.1 射频单板连接器归一化** 为了提高生产效率和降低生产成本，射频单板上的连接器需要进行归一化设计。 **2.2 射频单板外接电源插座归一化** 同理，外接电源插座也需要进行归一化设计，以简化生产和维护流程。 **2.3 基站天馈系统驻波检测设计** 对于基站天馈系统的驻波检测，需设计相应的测试接口和电路，确保能够实时监测天馈系统的驻波比，及时发现并解决问题。 **2.4 基站射频模块对外接口设计** 基站射频模块的对外接口设计应考虑与其他模块的兼容性和可测试性，确保模块之间的良好通信和信号传输。 **2.5 基站双工器可测试性设计** 双工器作为基站射频系统中的关键部件，其可测试性设计尤为重要。应设计合理的测试点和接口，以便于对其进行功能测试和故障排查。 **2.6 基站功放模块可测试性设计** 功放模块是射频系统中的核心组件之一，其可测试性设计应充分考虑功率输出的稳定性和可靠性，同时确保测试点能够准确反映模块的状态。 **2.7 基站低噪放可测试性设计** 低噪声放大器（LNA）作为接收链路中的第一级放大器，其性能直接影响到整个接收系统的灵敏度和信噪比，因此其可测试性设计需重点关注信号的放大效果和噪声性能。 **2.8 基站TRX单板或模块可测试性设计** 对于基站TRX（Transceiver）单板或模块，除了需要设计合理的ICT测试点之外，还需考虑其在实际工作环境下的性能表现，确保其能够在各种条件下稳定运行。 #### 结语 华为射频可测试性设计规范不仅为射频单板的设计提供了重要的指导思想和技术支持，而且对于提升产品的整体质量和生产效率有着不可忽视的作用。通过遵循这些规范，可以确保射频产品在设计之初就具备良好的可测试性，从而提高生产效率，降低生产成本，并最终提升产品的市场竞争力。