毫米波紧缩场天线测量技术和系统.docx

毫米波紧缩场天线测量技术和系统 毫米波紧缩场天线测量技术是为解决室外远场测量遇到的对准困难、保密性差、测量对气候条件要求高等问题而提出的一种测量方式。该技术的基本原理是：使待测天线和发射天线之间的距离减小，从而使测量系统变得紧缩起来。在紧缩场系统中，我们认为馈源出射的波是球面波，球面波经过一个或多个发射面镜的发射和转换后，将形成符合天线源场测量的类似与平面波的出射场，我们称之为伪平面波。 紧缩场测量技术的评判指标有五项：设设计加工难度、运行频带宽度、静区质量、高紧缩性、交叉极化隔离度。其中设计加工难度指的是紧缩场在研究设计和加工生产中遇到的难度。按照不同类型来分，紧缩场的加工设计难度是不同的。 传统上，学术界普遍接受的紧缩场的评判指标有以下五项： 1. 设计加工难度：指的是紧缩场在研究设计和加工生产中遇到的难度。 2. 运行频带宽度：指的是紧缩场系统的频带宽度。 3. 静区质量：包括静区扰动和静区的利用率两个方面。 4. 高紧缩性：指的是紧缩场系统的紧缩性。 5. 交叉极化隔离度：指的是紧缩场系统的交叉极化隔离度。 静区质量是紧缩场系统的重要指标之一，包括静区扰动和静区的利用率两个方面。在理想的远场天线测试中，测试天线接收的伪平面波，虽然不是理想形式的平面波，但对于波前的扰动也有一定的限制范围。在紧缩场中，静区的扰动也有着严格的范围控制。静区的扰动包括静区幅度的变化值和相位的变化值。在紧缩场中，静区的大小是反应紧缩场性能优劣的一个重要指标。 现在常用的紧缩场方式有单反射镜紧缩场、双反射镜紧缩场和三反射镜紧缩场方式。单反射镜面紧缩场是通过一块反射镜面将馈源发射出来的出射波进行聚焦，从而在接收平面上形成平面波的形式。双反射镜紧缩场系统是卡塞格伦形式的双镜系统。三反射镜紧缩场系统指的是用一个标准面主镜，和两个赋形面的副反射镜组成的反射面紧缩场系统。 毫米波紧缩场天线测量系统是目前市场上主流的毫米波紧缩场测量系统，主要是新益技术开发的 SYC 隹列。该系列产品是新益技术针对毫米波雷达频带宽、体积小的特性，面向毫米波探测领域推出的适用于不同尺寸的紧缩场测量系列系统，能为毫米波雷达测试设计搭建极佳的实验环境。主要应用于汽车雷达及其组件测试，毫米波军用/警用雷达产品测试，民用毫米波天线测试（毫米波反射面天线、5G 毫米波通信天线）。 SYC 陈列适用于各种毫米波雷达测试，系统采用一体式卷边反射面表面粗糙度 v20um（RMS,相较常规锯齿反射面更加节省空间。同时采用偏置馈源设计，同时适用于有源和无源测试，会在一定的纵向距离内形成一个椭圆状静区空间，使用网络分析仪或频谱分析仪及对应的扩频组件，均可进行(有源/无源)测试。配备多维承物转台，根据用户需要定制测试工装和电动辅助轴，可自由选择当下所需要测试的截面。使用需搭配全屏蔽无反射微波暗室，配备可调馈源夹具及对应频段波纹喇叭馈源。同时兼备可移动式基座，方便用户安置及部署。