本专利公开了干涉测量系统和方法。在一个示例性实施例中,一种用于测量到物体的距离或物体的位移的干涉测量系统包括:光源;具有测量臂和参考臂的干涉仪;分散介质;和一个探测器。干涉仪设置于光源与物体之间。色散介质被布置成不平衡测量臂和参考臂之间的色散。检测器被布置成检测来自干涉仪的光谱干扰。在一个示例中,色散介质是啁啾光纤布拉格光栅。在另一示例中,色散介质是高色散光纤。在一个示例中,光源是宽带光源,检测器包括光谱仪。
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