论文研究-基于二分算法的集成电路容错设计 .pdf

基于二分算法的集成电路容错设计，张丽娜，梁华国，工艺技术进入微米级之后，放射性粒子引起的电路软错误率不断升高，现有加固技术通常会带来较大的面积开销。为了平衡电路面积开销