基于PMAC控制卡的激光扫描尺寸测量系统

引 言 　　在机械加工中经常需要对一些简单的几何尺寸，如直径、边距等进行测量。这类工作重复性大，工作量大，传统的手工测量不仅增加了现场工作人员的工作强度，精度低，且手工测量的数据在统计处理时也很不方便。这类工作如果使用坐标测量仪等精度高，通用性强的仪器测量，在经济和效率上都很难满足要求。另有一种专门的激光扫描传感器可用于此类测量，但其测量精度是建立在对独立运动系统速度的控制上的，这无疑增加了成本。为了方便实现对这类简单、一维尺寸、高效、高精度，且易于数据管理的测量，在此提出一种可在PMAC控制卡控制的普通运动平台上实施激光扫描测量的系统。它融合了以上两种测量方法，即通过对激光信号的检测获得被