工业电子中的基于工业电子中的基于PMAC控制卡的激光扫描尺寸测量系统控制卡的激光扫描尺寸测量系统
引 言 在机械加工中经常需要对一些简单的几何尺寸，如直径、边距等进行测量。这类工作重复性大，工作
量大，传统的手工测量不仅增加了现场工作人员的工作强度，精度低，且手工测量的数据在统计处理时也很不
方便。这类工作如果使用坐标测量仪等精度高，通用性强的仪器测量，在经济和效率上都很难满足要求。另有
一种专门的激光扫描传感器可用于此类测量，但其测量精度是建立在对独立运动系统速度的精确控制上的，这
无疑增加了成本。为了方便实现对这类简单、一维尺寸、高效、高精度，且易于数据管理的测量，在此提出一
种可在PMAC控制卡控制的普通运动平台上实施激光扫描测量的系统。它融合了以上两种测量方法，即通过对激
光信号的检测获
引 言
在机械加工中经常需要对一些简单的几何尺寸，如直径、边距等进行测量。这类工作重复性大，工作量大，传统的手工测
量不仅增加了现场工作人员的工作强度，精度低，且手工测量的数据在统计处理时也很不方便。这类工作如果使用坐标测量仪
等精度高，通用性强的仪器测量，在经济和效率上都很难满足要求。另有一种专门的激光扫描传感器可用于此类测量，但其测
量精度是建立在对独立运动系统速度的精确控制上的，这无疑增加了成本。为了方便实现对这类简单、一维尺寸、高效、高精
度，且易于数据管理的测量，在此提出一种可在PMAC控制卡控制的普通运动平台上实施激光扫描测量的系统。它融合了以上
两种测量方法，即通过对激光信号的检测获得被测物的边缘信号，并根据此信号锁存光栅尺读数，以得到被测物的边缘位置，
从而进一步得到尺寸值。
这种方法具有光电测量高速、非接触的优点，又可充分利用技术成熟、应用广泛的光栅尺资源。由于光栅尺的精度通常都
较高，此测量系统可在一定范围内获得较高的精度。
1 测量原理及整体构造
测量系统由工控机、PMAC控制卡、运动测控系统(包括光栅尺、伺服电机、丝杠等)、激光发射装置和光电检测装置组
成。系统的主要原理如图1所示，被测物装在实验台上，并随实验台一起运动，运动的控制由PMAC控制卡完成，它读人光栅
尺的读数，并输出给电机的控制量。被测物两侧分别是激光发射装置和光电检测元件，当被测物位于光路中时，检测元件处于
断开状态；当被测物离开时，元件导通。随着被测物的移动，当其边沿通过激光束时，检测元件会产生由通到断或由断到通的
跳变。通过一定的设置，PMAC可检测到这些跳变信号，并锁存当时的光栅尺读数，这样就得到被测物的边沿位置，而通过测
量前后两个边沿位置，就可得到所需的尺寸值。
激光器采用了小功率半导体激光器，波长为640 nm。其小巧的体积和较低的价格使其非常适用于这类应用场合。光电检
测元件采用普通的金属封装光电三极管。
PMAC插在工控机的PCI插槽内，并通过PCI总线进行通信。通信的主要内容有两方面：向PMAC发运动控制指令，从而
使其完成平台的运动控制；从 PMAC内读取其锁存的被测物边沿位置读数，从而完成结果的输出、保存及分析工作。为方便
对采集数据的处理分析，以及便于研究系统性能，该系统采用了工控机加PMAC的组织方案，在系统定型后可以使用更加经济
的方案，如ARM-Linux加PMAC。
PMAC控制卡的使用是很灵活的，要构成上面所述的系统需要对其进行一些设置。下面将详细介绍在这种应用中PMAC卡
的设置方法及上下位机通信的实现办法。
2 PMAC卡的设置
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