杂散光测试仪是一种光学测量设备，主要用于测量光学系统中产生的非成像光线，也就是杂散光。杂散光是指除了成像光线以外，由于光学系统内部反射和散射产生的光线。在望远镜等光学仪器的成像质量评估中，除了星点观察和分辨率等指标外，杂散光的大小和透过率的高低同样重要。杂散光的存在会直接影响成像质量，进而影响望远镜观察目标的距离和照准精度。
根据国际上的先进经验，杂散光和透过率已经成为衡量望远镜质量的关键指标之一。我国的行业标准中也开始将这项指标列入考量，但国内的生产厂在检验手段上还存在不足。为了满足生产检验的需求，上海光学仪器研究所与一机部合作，试制了CXZ杂散光测试仪，它可以专门用于测量经纬仪、水准仪和平板仪等望远镜的杂散光和透过率。此外，测试仪也适用于其他光学系统的质量评估，如准直物镜、照相物镜等的杂散光测量，以及白光与单色光的透过率和各种材料的透过率测量。
产生杂散光的原因主要包含玻璃表面的多次反射和散射、玻璃表面清洁度不佳、玻璃材料内部缺陷、透镜边缘和镜筒内壁的反射和散射、镀膜层的散射、光栏片和快门片的反射和散射等。由于产生杂散光的原因复杂多样，因此测量方法也各有特点。
目前，杂散光的测量方法主要有两种，即黑斑法和点源法。黑斑法也称为扩源法，主要是通过测量在像面上张角近似为π的亮背景所产生的轴上点附近区域的杂散光积分值。杂散光系数定义为非成像光线的光强与成像光线的光强之比。这种方法能够简单地测量由各种因素产生的杂散光，但也受到黑斑直径、亮背景区域大小和接收孔大小的影响，且无法对不同类型的仪器进行直接比较。点源法则是在准直物镜的视场中心用点光源照明，通过测量环形背景的光强与直接成像光强的比值来确定杂散光系数。点源法的优点是测量结果不受测试条件影响，但缺点是无法测量透镜边缘等引起的杂散光。
CXZ杂散光测试仪采用的是黑斑法，主要通过球形平行光管的焦面上放置可调换的目标，分别使用黑塞子和白塞子测量出的光强来计算杂散光系数K。通过固定测试条件，如亮区角度、黑斑和接收孔大小等，以确保测量结果的准确性。此外，测试仪还能测量光学系统的透过率，即透射光强与入射光强的比值，并且可以通过使用相应的干涉滤色片来测量特定波长的单色光透过率。
CXZ杂散光测试仪的主要结构包括球形平行光管、测量透过率的光源、光栏孔、物镜以及接收器等部分。球形平行光管主要用于模拟自然光线条件，形成人工天体，其内壁喷涂白色硫酸钡，形成均匀的漫射光，内部装有数只白炽灯，并配有遮光罩以遮挡直射光线。测试仪的物镜采用特定焦距的平行光管物镜。通过这些精心设计的结构，CXZ杂散光测试仪能够精确地测量出光学系统中杂散光的影响程度以及透过率，为光学仪器的品质检验提供了有效的技术支持。
