光存储酞菁薄膜的加速老化研究

采用加速老化试验对光存储酞菁薄膜进行了寿命研究,以反射率的变化作为试验的判断依据。在55 ℃,85% RH;65 ℃,85％ RH和 75℃,85% RH的条件下,测试了反射率随时间的变化关系,用外推法估算出光存储酞菁薄膜的自然寿命。