三维内应力分析目前常用冻结切片法和散光法进行测量。1970年Н.К.АЬеn提出改变入射光偏振状态或波长来求解各片层的平面应力.迄今,三维主应力σ_1,σ_2及σ_3的测量与分析还未见有完满的光学切片法。本文对板形受力构件推广了Н.К.АЬеn的方法,改变入射光的波长,在三个方向进行偏光特性测量,而在厚度方向与干涉光弹或全息光弹结合,这样,通过文中的分析就能提供各应力单元的三个主应力的空间方向与大小的信息.
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