总结了在装配、箱转移和放大器运转期间在AMPLAB原型“国家点火装置”(NIF)的激光放大器上进行的清洁度测量。这些测量包括使用滤光片猛擦技术从表面清洁度评估以及从空气悬浮微粒监测得来的微粒计数。其结果与在“子束”和NOVA激光器和闪光灯试验设备上所作的类似测量进行了比较。讨论了闪光灯发射后对100,000级悬浮微粒的观察。将 Novette,NOVA,“子束”和AMPLAB激光放大器光学件的典型损伤密度作了比较。
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